点，衍射花样）。?
五、简答及思考题
1、试述由布拉格方程与反射定律导出衍射矢量方程的思路。 2、辨析概念：X射线散射、衍射与反射。
3、某斜方晶体晶胞含有两个同类原子，坐标位置分别为：(
33111，，1)和（，，），该晶体属何种布44442拉菲点阵？写出该晶体(100)、(110)、(211)、(221)等晶面反射线的F2值。
4、说明原子散射因子f、结构因子F、结构振幅?F?及干涉函数?G?2各自的物理意义。
5、多重性因子、吸收因子及温度因子是如何引入多晶体衍射强度公式的？衍射分析时如何获得它们的值？
6、金刚石晶体属面心立方点阵，每个晶胞含8个原子，坐标为：（0，0，0）、（（0，
1111，，0）、（，0，）、222211111331313133，）、（，，）、（，，）、（，，）、（，，），原子散射因子为fa，求其22444444444444系统消光规律（F2最简表达式），并据此说明结构消光的概念。
7、简述布拉格公式2dHKLsinθ=λ中各参数的含义，以及该公式主要有哪些应用？ 8、根据布拉格方程，求产生X射线衍射的极限条件。 9、为什么说衍射线束的方向与晶胞的形状和大小有关？
10、为什么说衍射线束的强度与晶胞中的原子位置和种类有关？获得衍射线的充分条件是什么？ 11、简述X射线衍射产生的充分必要条件。 12、简述影响X射线衍射方向的因素。 13、简述影响X射线衍射强度的因素。
14、多重性因子的物理意义是什么？某立方系晶体，其{100}的多重性因数是多少？如该晶体转变成四方晶系，这个晶面族的多重性因子会发生什么变化？为什么？
六、计算题
1、Cu K?射线（?K??0.154nm）照射Cu样品。已知Cu的点阵常数a=0.361nm，试分别用布拉格方程与厄瓦尔德图解法求其（200）反射的?角。
2、?-Fe为立方晶系晶体，点阵常数a=0.2866nm，如用Cr ?K?=0.22909nm进行摄照，求（110）和（200）面的掠射角（布拉格角?）。
第六章 X射线衍射方法
一、名词术语
选靶，滤波，衍射花样的指数化，连续扫描法，步进扫描法。 二、填空
1、X射线衍射方法分为多晶体衍射方法和单晶体衍射方法；多晶体衍射方法主要有（）和（）；单晶体衍射方法主要有（）、（）和（）等。
答案：照相法，衍射仪法，劳埃法，周转晶体法，四圆衍射仪法。
2、根据底片圆孔位置和开口所在位置不同，德拜法底片的安装方法分为3种，即（）、（）和（）。 答案：正装法，反装法，偏装法。
3、德拜法测量和计算的?值的误差来源主要有（）和（）等，校正的方法主要是采用（）安装底片。 答案：相机半径误差，底片收缩误差，偏装法（或叫不对称装片法）。 三、判断
1、入射X射线的波长?越长则可能产生的衍射线条越多。?
2、靶不同，同一干涉指数（HKL）晶面的衍射线出现的位置（2?）不同。√ 3、德拜法的样品是平板状的，而衍射仪法的样品是圆柱形的。?
4、德拜照相法衍射花样上，掠射角（?）越大，则分辨率（?）越高，故背反射衍射线条比前反射线条分辨率高。√
5、在物相定量分析方面，德拜法的结果比衍射仪法准确。?
6、多晶衍射仪法测得的衍射图上衍射峰的位置十分精确，没有误差。? 7、如果采用Mo靶（?K?=0.07093nm），那么晶面间距小于0.035nm的晶面也可能产生衍射线。? 四、选择
1、入射X射线的波长（?）越长则可能产生的衍射线条（）。A A、越少 B、越多
2、靶不同，同一干涉指数（HKL）晶面的衍射线出现的位置?（）。A A、肯定不相同 B、肯定相同 C、说不清楚 五、简答及思考题
1、下图为某样品德拜相（示意图），摄照时未经滤波。已知1、2为同一晶面衍射线，3、4为另一晶面衍射线，试对此现象作出解释。
2、粉末样品颗粒过大或过小对衍射花样影响如何？为什么？板状多晶体样品晶粒过大或过小对衍射峰形影响又如何？
3、晶体衍射对入射波长有何要求？如果入射X射线波长较原子间距长得多或短得多，将会如何？ 4、X射线衍射仪的基本组成包括哪几个部分，测试时的主要实验参数有哪些。 六、计算题
1、Cu K?辐射（?=0.154nm）照射Ag（f.c.c）样品，测得第一衍射峰（111）位置2?=38?，试求Ag的点阵常数。
2、已知?-Fe（面心立方）的点阵常数a=(0.3571+0.44x)nm（x为?-Fe中的碳的质量分数），如今用Co K?辐射（?=0.1790nm）测得?相（311）的峰位2?=111.00?，问?-Fe中的碳的含量是多少？
3、用Cu的K?辐射（?＝0.154nm）作入射线，对于具有下列晶体结构的粉末图样，试预测随着角度增加次序该粉末图样开始3条衍射峰的2?和（HKL）值：（1）体心立方（a=0.340nm）；（2）面心立方（a=0.288nm）；（3）简单正方（a=0.200nm，c=0.300nm）
第七章 X射线衍射分析的应用
一、名词、术语、概念
X射线物相分析、X射线物相定性分析、X射线物相定量分析 二、填空
1、德拜法测定点阵常数，系统误差主要来源于（）、（）、（）、（）等。答案：相机半径误差、底片伸缩误差、样品偏心误差和样品吸收误差。 三、判断
1、在X射线物相定性分析过程中，主要是以d值为依据，而相对强度仅作为参考依据。√
2、X射线衍射法测定晶体的点阵常数是通过衍射线的位置（2?）的测定而获得的，点阵常数测定时应尽量选用低角度衍射线。?
四、简答题及思考题
1、简述点阵常数精确测定的用途。
2、简述X射线衍射物相定性分析原理、一般步骤及注意事项。
3、化学分析表明，一种氢氧化铝试样中含有百分之几的Fe3+杂质。Fe3+离子将会对粉末XRD图带来什么影响，如果它以（a）分离的氢氧化铁相存在，（b）在A1(OH)3晶体结构中取代Al3+。
4、金刚石、石墨、碳制成三个粉末样品，估计它们的衍射图谱各有什么特点？
5、简述如何利用字母索引查找PDF卡片，譬如说铁、铜、黄铜、氯化钠、石英，应查找何栏目？ 五、计算题
1、A-TiO2（锐钛矿）与R-TiO2（金红石）混合物衍射花样中两相最强线强度比
R?TiOA?TiOIA?TiO2IR?TiO2?1.5。试用参比强度
22法计算两相各自的质量分数。已知K??Al2O?3.4，K??Al2O?4.3 332、某淬火后低温回火的碳钢样品，不含碳化物（经金相检验）。A（奥氏体）中含碳1%，M（马氏体）中合碳量极低。经过衍射测得A220峰积分强度为2.33（任意单位），M211峰积分强度为16.32。试计算该钢中残留奥氏体的体积分数（实验条件：Fe K?辐射，滤波，室温20℃。?-Fe点阵参数a＝0.2866nm，奥氏体点阵参数a＝0.3571+0.0044wc，wc为碳的质量分数）。
3、某立方晶系晶体德拜花样中部分高角度线条数据如下表所列。试用“a-cos2?”的图解外推法求其点阵常数（准确到4位有效数字）。已知入射线为Cu K?射线（?K??0.15406nm）
H2+K2+L2 38 40 41 42
4、按上题数据，应用最小二乘法（以cos2?为外推函数）计算点阵常数值（准确到4位有效数字）。
5、使用Cu的K?射线，得到一组氯化钠粉末X射线衍射数据，这些衍射峰位分别是：2??=27.45?，31.80?，45.60?，54.05?，56.70?，66.50?，73.30?，75.60?，84.3?，将上述各衍射峰进行指数化，并指明它属于哪一种晶格类型，计算它的晶胞参数a。
6、使用Cu的K?（?＝0.15406nm）辐射某粉末得十根衍射线，其相应的sin2?之值为：0.1118，0.1487，0.2940，0.4030，0.4390，0.5830，0.6910，0.7270，0.8720，0.9810，试标定这些线条的指数，求出其晶系和点阵常数。
7、已知钢样品由两相物质?-Fe和?-Fe构成，如今在衍射仪上用Co K?辐射对此样品自40?到120?的范围内进行扫描，所得的衍射图上有几个衍射峰？标注相应的反射晶面。（?-Fe的点阵常数a=0.286nm，?-Fe的点阵常数a=0.360nm）
8、已知铝的点阵常数a=0.405nm，今用Cu K?辐射在衍射仪上扫描测试其粉末样品，衍射仪扫描的最高角限于160?，问最高角的衍射峰位？因为K?1和K?2的缘故两峰分裂的宽度等于多少？
9、今用衍射仪，以Co K?记录钢中?相（211）线（峰值2?=99.60?）和?相（311）线（峰值2?=111.10?），测量表明I?/I?=4.1。不考虑温度因子，试求该样品残余奥氏体的体积含量？
10、已知?-Fe的点阵常数a=(0.3571+0.44x)nm（x为?-Fe中的碳的质量分数），如今用Co K?辐射测得?相（311）的峰位2?=111.00?，问?-Fe中的碳的含量是多少？
第八章透射电子显微分析
一、名词、术语、概念
电子透镜、明场像，暗场像，中心暗场像，复型，质厚衬度，衍射衬度。 二、填空
1、透射电子显微镜（TEM）由（）系统、（）系统、（）系统、（）系统和（）系统组成。 答案：照明，成像，记录，真空，电器。
2、透射电子显微镜（TEM）的成像系统是由（）镜、（）镜和（）镜组成。 答案：物，中间，投影。
3、透射电子显微镜（TEM）成像系统的两个基本操作是（）操作和（）操作。 答案：成像，衍射。
4、透射电子显微镜（TEM）的成像操作方式主要有三种，即（）操作、（）操作和（）操作。 答案：明场像，暗场像，中心暗场像。
5、按复型的制备方法，复型主要分为（）复型、（）复型和（）复型。
sin2? 0.9114 0.9563 0.9761 0.9980
答案：一级，二级，萃取。
6、单晶电子衍射花样的标定方法主要有（）和（）。 答案：尝试-核算法和标准花样对照法。 三、判断
1、透射电镜分辨率的高低主要取决于物镜。√
2、通过调整中间镜的透镜电流，使中间镜的物平面与物镜的背焦面重合，可在荧光屏上得到衍射花样；若使中间镜的物平面与物镜的像平面重合则得到显微像。√
3、电子衍射与X射线衍射相比，其精度和准确度更高。?
4、单晶电子衍射花样是同心圆，而多晶电子衍射花样是有规律的斑点。? 5、单晶电子衍射斑点具有周期性。√
6、单晶电子衍射花样的标定具“180?不唯一性”或“偶合不唯一性”现象。√ 四、选择
1、透射电镜分辨率的高低主要取决于（）。A A、物镜 B、中间镜 C、投影镜
2、透射电镜分析中，非晶样品的衬度主要来源于（）。B A、衍射衍度 B、质厚衬度 C、其它衬度
3、透射电镜分析中，晶体样品的衬度主要来源于（）。A A、衍射衍度 B、质厚衬度 C、其它衬度 五、简答题及思考题
1、电子衍射分析的基本公式是在什么条件下导出的？公式中各项的含义是什么？ 2、透射电子显微镜中物镜和中间镜各处在什么位置，起什么作用？ 3、试比较光学显微镜成像和透射电子显微镜成像的异同点。 4、选区衍射原理及操作步骤。
5、什么是衍射衬度？它与质厚衬度有什么区别？ 6、简述透射电镜对分析样品的要求。
7、说明如何用透射电镜观察超细粉末的尺寸和形态？如何制备样品？ 8、简述用于透射电镜分析的晶体薄膜样品的制备步骤。 9、与X射线衍射相比，电子衍射的主要特点是什么？ 10、萃取复型可用来分析哪些组织结构？得到什么信息？
11、如何测定透射电镜的分辨率与放大倍数？电镜的哪些主要参数控制着分辨率与放大倍数？ 12、点分辨率和晶格分辨率有何不同？同一电镜的这两种分辨率哪个高？为什么？
第九章扫描电子显微分析与电子探针
一、名词、术语、概念
像衬度，景深，二次电子像，背散射电子像 二、填空
1、电子探针分析主要有三种工作方式，分别是（）分析、（）分析和（）分析。 答案：（定）点，线（扫描），面（扫描）。
2、电子探针中检测特征X射线的谱仪有二种类型，即检测X射线波长和强度的谱仪叫（），检测X射线能量和强度的谱仪叫（）。
答案：波长色散谱仪（或叫波长分散谱仪，简称波谱仪），能量色散谱仪（或叫能量分散谱仪，简称能谱仪）。 三、判断
1、通常所谓的扫描电子显微镜的分辨率是指二次电子像的分辨率。? 2、背散射电子像与二次电子像比较，其分辨率高，景深大。? 3、二次电子像的衬度主要来源于原子序数衬度。?
4、表面平整样品的背散射电子像的衬度主要来源于原子序数衬度。? 5、电子探针可以分析元素周期表上的所有元素。?