材料分析测试方法练习与答案

3.17 2.24 1.91 1.83 1.60 表2。 d/? 2.40 2.09 2.03 1.75 1.47 100 80 40 30 20 I/I1 50 50 100 40 30 1.42 1.31 1.23 1.12 1.08 d/? 1.26 1.25 1.20 1.06 1.02 50 30 10 10 10 I/I1 10 20 10 20 10 1.01 0.96 0.85 d/? 0.93 0.85 0.81 0.80 10 10 10 I/I1 10 10 20 20 13. 在一块冷轧钢板中可能存在哪几种内应力?它的衍射谱有什么特点?按本章介绍的

方法可测出哪一类应力?

14. 一无残余应力的丝状试样,在受到轴向拉伸载荷的情况下,从垂直丝轴的方向用单色

Ⅹ射线照射,其透射针孔相上的衍射环有何特点?

15. Ⅹ射线应力仪的测角器2θ扫描范围143°~163°,在没有“应力测定数据表”的情

况下,应如何为待测应力的试件选择合适的Ⅹ射线管和衍射面指数(以Cu材试件为例说明之)。

16. 在水平测角器的衍射仪上安装一侧倾附件,用侧倾法测定轧制板材的残余应力,当测

量轧向和横向应力时,试样应如何放置?

17. 用侧倾法测量试样的残余应力,当Ψ=0o和Ψ=45o时,其x射线的穿透深度有何变

化? 18. A-TiO2%(锐钛矿)与R-TiO2(金红石)混合物衍射花样中两相最强线强度比I A-TiO2

/I R-TiO2=1·5·试用参比强度法计算两相各自的质量分数。 19. 某淬火后低温回火的碳钢样品,不含碳化物(经金相检验)。A(奥氏体〕中含碳1%,

M(马氏体)中含碳量极低。经过衍射测得A220峰积分强度为2.33(任意单位〕〕M211峰积分强度为16.32。试计算该钢中残留奥氏体的体积分数(实验条件:Fe Kα辐射,滤波,室温20℃。α-Fe点阵参数a=0.286 6 nm,奥氏体点阵参数a=0。3571+0.0044Wc,Wc为碳的质量分数)。

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20. 某立方晶系晶体德拜花样中部分高角度线条数据如右表所列。试用“a一cosθ”的

图解外推法求其点阵常数(准确到4位有效数字)。 2222H+K+L Sinθ 38 0.9114 40 0.9563 41 0.9761 42 0.9980 21. 欲在应力仪(测角仪为立式)上分别测量圆柱形工件之轴向、径向及切向应力 工件各应如何放置?

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第五章

十三、 选择题

1.若H-800电镜的最高分辨率是0.5nm,那么这台电镜的有效放大倍数是( 4*10-5 )。 A. 1000;B. 10000;C. 40000;D.600000。

2. 可以消除的像差是( )。

A. 球差;B. 像散;C. 色差;D. A+B。

3. 可以提高TEM的衬度的光栏是( )。

A. 第二聚光镜光栏;B. 物镜光栏;C. 选区光栏;D. 其它光栏。

4. 电子衍射成像时是将( )。

A. 中间镜的物平面与与物镜的背焦面重合;B. 中间镜的物平面与与物镜的像平面重合;C. 关闭中间镜;D. 关闭物镜。

5.选区光栏在TEM镜筒中的位置是( )。

A. 物镜的物平面;B. 物镜的像平面C. 物镜的背焦面;D. 物镜的前焦面。

十四、 正误题

1.TEM的分辨率既受衍射效应影响,也受透镜的像差影响。( ) 2.孔径半角α是影响分辨率的重要因素,TEM中的α角越小越好。( )

3.有效放大倍数与仪器可以达到的放大倍数不同,前者取决于仪器分辨率和人眼分辨率,后者仅仅是仪器的制造水平。( ) 4.TEM中主要是电磁透镜,由于电磁透镜不存在凹透镜,所以不能象光学显微镜那样通过凹凸镜的组合设计来减小或消除像差,故TEM中的像差都是不可消除的。( )

5.TEM的景深和焦长随分辨率Δr0的数值减小而减小;随孔径半角α的减小而增加;随放大倍数的提高而减小。( )

十五、 填空题

11. TEM中的透镜有两种,分别是 物镜 和 目镜 。

12. TEM中的三个可动光栏分别是 第二聚光镜光栅 位于 第二聚光镜下方焦点位

置 , 物镜光栅 位于 物镜后焦面上 , 选区光栅 位于 物镜像平面位置 。 13. TEM成像系统由 物镜 、 中间镜 和 投影镜 组成。 14. TEM的主要组成部分是 照明系统 、 成像系统 和 观察记录系

统 ;辅助部分由 趁空系统 、 循环冷却系统 和、控制系统 组成。

15. 电磁透镜的像差包括 球 差 、 象散 和 色差 。

十六、 名词解释 5. 景深与焦长—— 6. 电子枪——

7. 点分辨与晶格分辨率—— 8. 消像散器——

10

9. 选区衍射—— 10. 分析型电镜—— 11. 极靴——

12. 有效放大倍数—— 13. Ariy斑—— 14. 孔径半角——

思考题

1. 什么是分辨率,影响透射电子显微镜分辨率的因素是哪些? 2. 有效放大倍数和放大倍数在意义上有何区别?

3. 球差、像散和色差是怎样造成的?如何减小这些像差?哪些是可消除的像差? 4. 聚光镜、物镜和投影镜各自具有什么功能和特点?

5. 影响电磁透镜景深和焦长的主要因素是什么?景深和焦长对透射电子显微镜的成像

和设计有何影响?

6. 消像散器的作用和原理是什么? 7. 何为可动光阑?第二聚光镜光阑、物镜光阑和选区光阑在电镜的什么位置?它们各具

有什么功能?

8. 比较光学显微镜和电子显微镜成像的异同点。电子束的折射和光的折射有何异同点? 9. 比较静电透镜和磁透镜的聚焦原理。

10. 球差、色差和像散是怎样造成的?用什么方法可以减小这些像差? 11. 说明透镜分辨率的物理意义,用什么方法提高透镜的分辨率? 12. 电磁透镜的景深和焦长是受哪些因素控制的? 13. 说明透射电镜中物镜和中间镜在成像时的作用。 14. 物镜光阑和选区光阑各具有怎样的功能

15. 点分辨率和晶格分辨率在意义上有何不同? 16. 电子波有何特征?与可见光有何异同?

17. 分析电磁透镜对电子波的聚焦原理,说明电磁透镜结构对聚焦能力的影响。

18. 说明影响光学显微镜和电磁透镜分辨率的关键因素是什么?如何提高电磁透分辨

率?

19. 电磁透镜景深和焦长主要受哪些因素影响?说明电磁透镜的景深大、焦长长,是什么

因素影响的结果?假设电磁透镜没有像差,也没有衍射Airy斑,即分辨率极高,此时景深和焦长如何?

20. 透射电镜主要由几大系统构成?各系统之间关系如何? 21. 照明系统的作用是什么?它应满足什么要求? 22. 成像系统的主要构成及其特点是什么?

23. 分别说明成像操作与衍射操作时各级透镜(像平面与物平面)之间的相对位置关系,

并画出光路图。

24. 样品台的结构与功能如何?它应满足哪些要求?

25. 透射电镜中有哪些主要光阑,在什么位置?其作用如何?

26. 如何测定透射电镜的分辨卒与放大倍数。电镜的哪些主要参数控制着分辨率与放 大倍数?

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第六章

十七、 选择题

1.单晶体电子衍射花样是( )。

A. 规则的平行四边形斑点;B. 同心圆环;C. 晕环;D.不规则斑点。

2. 薄片状晶体的倒易点形状是( )。

A. 尺寸很小的倒易点;B. 尺寸很大的球;C. 有一定长度的倒易杆;D. 倒易圆盘。

3. 当偏离矢量S<0时,倒易点是在厄瓦尔德球的( )。 A. 球面外;B. 球面上;C. 球面内;D. B+C。

4. 能帮助消除180o不唯一性的复杂衍射花样是( )。

A. 高阶劳厄斑;B. 超结构斑点;C. 二次衍射斑;D. 孪晶斑点。

5. 菊池线可以帮助( )。

A. 估计样品的厚度;B. 确定180o不唯一性;C. 鉴别有序固溶体;D. 精确测定晶体取向。

6. 如果单晶体衍射花样是正六边形,那么晶体结构是( )。 A. 六方结构;B. 立方结构;C. 四方结构;D. A或B。

十八、 判断题

1.多晶衍射环和粉末德拜衍射花样一样,随着环直径增大,衍射晶面指数也由低到高。( )

2.单晶衍射花样中的所有斑点同属于一个晶带。( )

3.因为孪晶是同样的晶体沿孪晶面两则对称分布,所以孪晶衍射花样也是衍射斑点沿两则对称分布。( )

4.偏离矢量S=0时,衍射斑点最亮。这是因为S=0时是精确满足布拉格方程,所以衍射强度最大。( )

5.对于未知晶体结构,仅凭一张衍射花样是不能确定其晶体结构的。还要从不同位向拍摄多幅衍射花样,并根据材料成分、加工历史等或结合其它方法综合判断晶体结构。( ) 6.电子衍射和X射线衍射一样必须严格符合布拉格方程。( )

十九、 填空题

16. 电子衍射和X射线衍射的不同之处在于 不同、 不同,以

及 不同。

17. 电子衍射产生的复杂衍射花样是 、 、 、

和 。

18. 偏离矢量S的最大值对应倒易杆的长度,它反映的是θ角 布拉格方程的程度。 19. 单晶体衍射花样标定中最重要的一步是 。

20. 二次衍射可以使密排六方、金刚石结构的花样中在 产生衍射花样,

但体心立方和面心立方结构的花样中 。

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