高级无损检测技术资格人员-射线检测考题汇编 填空题
1.普朗克常数h=(6.626×10-34J·s),长度单位1=(10-10m),电子质量me=(9.108×10-30kg),电子电量e=(-1.602×10-19C)
2.当单色射线能量约（9MeV）时，对钢的穿透力最大，此时相应的Χ射线输出约为（20MeV）
3.直接电离辐射通常是指阴极射线,(β)射线,(α)射线和(质子)射线,间接电离辐射是指(Χ)射线,(γ)射线和(中子)射线
4.60Co放出的γ射线平均能为(1.25MeV),相当于(2000～3000KVp)X射线穿透
力,192Ir放出的γ射线平均能为(0.35MeV),相当于(150～800kVp)X射线穿透力 5.60Co和192Ir的射线输出分别为(1.3)R/m·h·ci和(0.5)R/m·h·ci；60Co和192Irγ射线的能谱线分别为(2)根和至少(24)根
6.可用于2～10mm薄壁管透照的一种γ射线新源是（169Yb），其半衰期为（31）天，射线输出为（125）mR/h·ci
7.检查轻合金的薄试件也可利用β放射同位素所产生的韧致辐射，常用的源如：（90Sr）和（169Yb）等 8.中子射线有以下特点：在重元素中衰减(小),在轻元素中衰减(大),在空气中电离能力(弱),不能直接使胶片感光
9.常用的中子源有以下三种：①（同位素中子源）；②（加速器中子源）；③（原子反应堆）
10.不同剂量的照射对人体的损伤：D≤（0.25Gy）的一次照射时，无明显病理变化；D≈（0.5Gy）时，出现一时性血象变化；D≥（1Gy）时，会引起急性放射病
11.电离辐射引起的生物效应分为两类：①发生率取决于剂量的（随机）效应，如遗传效应和躯体致癌效应；②严重程度随剂量而变化的（非随机）效应，如对眼、皮肤和血液引起的效应。射线防护的目的在于防止有害的（非随机）效应，并限制（随机）效应的发生率，使之达到可以接受的水平
12.发生光电效应几率的实验近似公式为：τ=kρz4λ3，其中K为常数；ρ为（物质密度）；Z为（物质的原子序数）；λ为（射线的波长）
13.波长为0.1的光子,其能量E=(124000),eV=(2×10-7)尔格,管电压250kV时,产生射线的最短波长为(0.0496)
14.射线穿透物质时产生的吸收程度，取决于材料的（原子系数）、（密度）、（厚度）以及射线本身的（波长）
15.射线的线质越硬，其光子能量越（大），波长越（短），穿透力越（强），衰减系数越（小）,半价层厚度越（大）
16.X射线穿透钢材料时,两种主要效应的发生几率与光子能量的关系：J=σc时,E≈(100)keV；σc=max时,E=(1000)keV
17.连续Χ射线总强度可用下式表示：I=（ηoiZV2），连续Χ射线的转换效率公式为η=（ηoZV）
18.单色窄束射线的半价层厚度约为1/10价层厚度的（0.3）倍；若已知线衰减系数μ，则1/10价层厚度为（2.3/μ）
19.γ射线放射性活度与照射量的关系式为X=A·t/KrR2。式中X-（照射量[伦]）；A-（放射性活度[Ci]）；Kr-（照射率常数[mR/h·ci]）；R-（到点源距离[m]）；t-（受照时间[h]）
20.常用的γ源Kr常数,对于60Co为Kr=（1.32）；对于192Ir为Kr=（0.472）
21.照射量的国际单位是(库仑/千克,C/Kg),专用单位是(伦琴,R),两者的换算关系是(1库仑/千克≈3.877*103伦琴,1伦琴=2.58*10-4库仑/千克)
22.吸收剂量的国际单位是(戈瑞,Gy),专用单位是(拉德,rad),两者的换算关系是(1戈瑞=1焦耳/千克=100拉德,1拉德=10-2戈瑞)
23.剂量当量的国际单位是(希沃特,Sv),专用单位是(雷姆,rem),两者的换算关系是(1希沃特=1焦耳/千克=100雷姆, 1雷姆=10-2希沃特)
24.剂量当量H是吸收剂量D与(品质因数Q)与(其他修正因数N)的乘积,数学表达式为H=(DQN),对Χ射线和γ射线防护而言,由于(有关修正因数为1),可以认为吸收剂量与剂量当量(等值)
25.放射性同位素60Co中的60叫做(质量数),其原子核中含有(27)个质子和(33)个中子,60Co裂变时发生(β)射线和(γ)射线,60Co因(半衰期)较长而适用于无损检测. 26.当单色窄束X射线通过厚度为d的物质后，表示射线强度衰减规律的公式为：（I=I0e-μd）
27.射线与物质作用时，最主要的效应是(光电)效应、(散射)效应、(电子对生成)效应
28.10居里钴60射源衰减到1.25居里时大约需要(15.9)年
29.X射线的能量取决于（X射线管电压），而γ射线的能量取决于（γ源的种类） 30.高能射线是能量在（1）兆电子伏特以上的X射线，采用直线加速器产生的高能X射线与一般X射线相比，它具有（穿透能力强）、（焦点小）、（转换效率高）等特点
31.X射线是利用（高速运动的电子撞击金属靶）的方法产生的，它具有（连续X）线谱和（特征X）线谱，γ射线是利用（放射性同位素物质衰变）的方法产生的，它只具有X射线中的后一种线谱
32.钴60γ射线源发出的两种γ射线能量分别为1.17和1.33MeV，因此它们的波长分别为(0.0106)和(0.00932)
33.活度为1居里的铱192，距离它1米处在无遮挡、无吸收的条件下，其一次射线的照射量率为（0.55）伦琴/小时
34.衰变常数为0.021/年的γ射线源，其半衰期为（33年），此射线源为（铯）源 35.X射线的能量取决于X光机的（管电压），γ射线的强度取决于（源的种类） 36.原子核内的（质子）数相同，而（中子）数不同的元素叫做同位素
37.单色、窄束、强度为I0的X射线通过厚度d的材料后的衰减公式为（I=I0e-μd），而对于强度为I0的单色、宽束X射线通过厚度d的材料后的衰减公式为（I=(1+n)I0e-μd）
38.X射线、γ射线与物质作用时，可产生（光电）效应、（康普顿(或散射)）效应和（电子对生成）效应，其中（电子对生成）效应只有在光子能量大于（1.02MeV）才会出现
39.射线的衰减系数与（射线能量）及照射物质的（原子序数）和（密度）有关 40.吸收剂量当量的单位是（雷姆(Rem)），对于X射线、γ射线，因为修正系数等于（1），故吸收剂量当量值与吸收剂量值是（相同）的
41.直线加速器的优点是（体积小）和（输出射线强度大），回旋加速器的优点是（焦点尺寸小）
42.经Χ射线曝光过的胶片包含两种不同类型的粒度：（胶片）粒度和（量子噪声）引起的粒度
43.产生给定胶片密度所需要的伦琴数随射线能量的增加而（增加）；射线能量高到一定数值，上述伦琴数（基本不变），这就是所谓射线胶片的光谱灵敏度
44.用盐屏摄得的底片不清晰与两个因素有关，一是（结构）斑点；二是（量子）斑点
45.底片颗粒度的表示为：G=σd/α,式中符号意义：σd（密度均方差）；α（扫描点面积）
46.Χ射线能量低于150kV时，由于（吸收系数）变化很快，管电压的选择比较严格；能量在200～400kV时，电压变化约为（30～40）kV才使灵敏度有明显变化；当为2～31MeVΧ射线时，探伤灵敏度（几乎相同） 47.(电离室)型监测仪可用来测量直射线、操作区内的散射线等相当高的照射率；（闪烁计数器）可用来探测曝光室之外的泄漏射线；（胶片剂量计）是最典型的个人照射剂量计，可记录在相当长时间内累积的剂量
48.对电子加速器产生的Χ射线束，不宜用（铅）或重过滤材料，因在（2～3）MeV时，其质量衰减系数有一最低值
49.目前常用的中子源有以下三种：①(同位素中子源)；②(加速器中子源)；③(反应堆中子源)
50.192Ir中有（77）个质子，（115）个中子，其半衰期为75天，则其衰变常数为（0.00924/d）
51.放射性同位素的制取有在核反应堆中通过中子照射激活的，如（192Ir）和（60Co）,也有是核裂变的产物，如（137Cs）
52.X射线照相检测时的工艺参数最重要的是(管电压),(管电流),(曝光时间),(焦距)等
53.用棒阳极射线管透照有剩磁的钢管环焊缝时，（聚焦电子）漂移会造成曝光量不稳定
54.胶片特性曲线上，某一区域的黑度差没D与（相对曝光量对数的差值）的比值称为该区域的反差系数r
55.我国天津感光胶片厂生产的工业用II、III、V型胶片，其感光度大致相当于国外（Agfa）牌号的（D10）、（D7）、（D4）型胶片，或国外（富士）牌号的（400）、（200）、（100或80）型胶片
56.亚硫酸钠在显影液中起（保护）作用；在定影液中起（保护）作用
57.工业用X光机高压的调节通常是通过（自耦变压器）的调节，改变高压发生器中的（初级电压）来实现的，而管电流的调节是通过（电阻）的调节，改变（灯丝变压器）的（初级电压）来实现的
58.为使像质计灵敏度达到最佳值，透照余高磨平的焊缝宜选择黑度约为（2.5）的摄片条件；透照有余高的焊缝时，宜选择母材黑度约（3.0～3.5），焊缝黑度约（1.5～2.0）的摄片条件
59.按照信息论，空间频率f即每毫米黑白线对是指（不清晰度），而影像噪声是指（颗粒度）
60.若底片上阶梯孔型像质计灵敏度为2%，则实际圆形气孔的检出灵敏度约为（3）%；为检出1mm气孔，像质计上应显示的阶梯孔径为（2/3）mm
61.金属增感屏的增感系数随着材料原子序数的增大而（增大），在试验范围内（金）最大，在管电压较低时（锡）最大
62.金属增感屏的增感系数随着Χ射线管电压的降低而（减小），大约在（120）kV以下时，增感系数(小)于1
63.在某一密度D时的胶片衬度用下式表示：G0=（dD/dlgE）；在两特定密度之间，胶片的平均衬度可表示为G=（△D/△lgE）
64.射线照相灵敏度是射线照相（清晰度）和（对比度）两大因素的综合结果
65.X射线照相检测时的工艺参数最重要的是(管电压),(管电流),(曝光时间),(焦距)等
66.射线辐射防护的三种基本方式是(距离防护),(屏蔽防护),(时间防护) 67.按JIS Z3104,3105标准规定，用内胶片法，对管子环缝进行照像时，为保证横向裂纹的检出率，当焦距最远时，按普通级要求，最少应照（13）张片子
68.为了提高射线照像的对比度，可以采取射线胶片与工件保持适当距离的特殊照像方法，此时（1/[1+n]）值随该距离的增大而增大，（σ）值该距离的增大而减小，因此必须取（σ/[1+n]）值的最大时的最佳距离
69.对于厚度差比较大的工件进行一次曝光透照时，可以采用（双胶片）、（分散曝光）、（补偿）等方法，使底片黑度都处于有效黑度范围内
70.为了保证焊缝中裂纹的检出率，日本JIS Z3104标准规定：射线穿透方向与缺陷方向之间的相对角度，对于普通级应小于（14）度，对于特殊级应小于（9）度 71.用100居里的铱192γ射线源透照某工件，焦距1米，曝光时间5分钟，能得到合适的底片黑度。225天后，用该源透照相同工件，焦距变为2米，为得到相同黑度，曝光时间应为（160）分钟
72.底片对比度与（工件）对比度和（胶片反差）系数有关
73.射线照相的灵敏度由两个指标来确定，即射线底片的（对比）度和（清晰）度 74.鉴定底片的水洗效果，可采用1%的（AgNO3）加醋酸（28%）做试验液，如果底片上出现（棕黄色）现象，即可说明底片水洗不佳
75.铱192的半衰期为75天，用该新源透照工件最佳的曝光时间为10分钟，225天后重照同样的工件（设其他条件不变），则需曝光（80）分钟
76.为了提高射线照像的对比度没D，可以在照相布置时把胶片与工件的距离调整到使（σ/[1+n]）的比值达到最大值
77.底片黑度取决于辐射强度和曝光时间的乘积，若曝光量一定时，辐射强度与曝光时间成反比，但采用（荧光增感）方法时，则该反比定律失效
78.射线照相对比度的公式是（△D=-0.434γμσ△d/(1+n)），其中（μ△d/(1+n)）称为主因对比度
79.一铸件厚度为1.25英寸，射线底片上显示出ASTM 20#像质计的2T孔，则该底片的当量灵敏度为（1.6%）
80.铸件射线底片上出现清晰的黑线或长度与宽度不等，轮廓光滑分明的带状显示，则大多数是（冷隔）缺陷
81.铅箔增感屏前屏起（增感）、（吸收软射线）作用，后屏主要起（吸收散射线）作用
82.在半波自整流电路里加装逆电压降低器的目的是(降低X射线管的逆电压)，在倍压整流电路里起倍压作用的元件是(电容器)
83.由于Χ射线照射场内阳极侧和阴极侧（焦点尺寸）和（射线强度分布）不同，因此不能利用整个照射场来透照工件
84.射线底片表观对比度与底片对比度的关系式为：△Da=（△D/(1+n')）
85.体积状缺陷的可检出性主要取决于射线照相（对比度）细小缺陷的可检出性还取决于胶片的（清晰度）