v1.0 可编辑可修改 测试样品： 测试条件：
2 台
测试制具或者使用人工进行测试；
2.总测试周期为50,000次(40-60次/分钟)； 3.完全打开和闭合转轴；
测试要求： 检验标准：
1.每1,000次进行检验；
1.测试后，HINGE是否能够顺利打开和闭合，且没有噪音； 显示是否正确，检验FPC是否被刮伤或断开； 3.转轴闭合后，自动打开角度必须小于5度；
耳机寿命测试
测试样品： 测试条件：
2 台
1.使用人工进行测试；
2.总测试周期为5,000次，3秒/次；
测试要求： 检验标准：
1.插入/拔下耳机卡为一个测试周期，每500次进行检验；
1.在规定的测试周期内耳机插入UUT后，耳机功能和手机声音回路必须正常；
拆卸/重新组装寿命测试
测试样品： 4 台 测试条件：
在室温下，使用手动或电动扭矩起子，拆装手机3次。除非特别说明，起子使用设计扭矩主要是测试螺钉，螺牙和嵌件。
手机2台，用手动起子拆装3次，每次间隔5分钟，3次的拆装顺序必须相同。
手机2台，用电动起子拆装3次，每次间隔5分钟，3次的拆装顺序必须相同。
测试要求： 检验标准：
在测试前和测试后都要进行功能检查，包括电性能和声音的测试。
不能出现影响手机功能的螺钉连接不良（例如：划牙，嵌件脱落，connector松动），不能有电性能和音频参数超出规格。
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v1.0 可编辑可修改
环境应力测试
* 高温储存测试
测试样品： 测试条件：
2 台
1.测试温度为+85±3oC，湿度50±5%RH； 2.测试周期为72小时；
测试要求：
处于关机状态；
2.必须装入可充电电池；
3.必须等环境试验箱温湿度达到稳定后才放入UUT；
4.测试结束后，UUT拿出环境实验箱后需要在室温下放置2小时，再开始检验；
检验标准：
* 低温储存测试
测试样品： 测试条件：
功能必须正常，外观没有损坏；
2 台
1.测试温度为-40±3oC； 2.测试周期为72小时；
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v1.0 可编辑可修改 测试要求：
处于关机状态；
2.必须装入可充电电池；
3.必须等环境试验箱温湿度达到稳定后才放入UUT；
4.测试结束后，UUT拿出环境实验箱后需要在室温下放置2小时，再开始检验；
检验标准： 功能必须正常，外观没有损坏；
高温/高湿储存测试
测试样品： 测试条件：
2 台
1.测试温度为70±2oC，湿度为90±3%RH； 2.测试周期为2天；
测试要求：
处于关机状态；
2.必须装入可充电电池；
3.必须等环境试验箱温湿度达到稳定后才放入UUT；
4.测试结束后，UUT拿出环境实验箱后需要在室温下放置2小时，再开始检验；
检验标准： 功能必须正常，外观没有损坏；
工作温度测试
测试样品： 测试条件：
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2 台
1.温度 GSM Band：-20oC(2小时+测试时间)；
DCS Band：-10oC(2小时+测试时间)；
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v1.0 可编辑可修改
2.温度 +55oC(2小时+测试时间)； 湿度 +50±10%RH
表面与箱壁之间的最小距离为10cm；
处于开机状态，运行自动检验程式； 2.等环境试验箱温度稳定后才放入UUT； 3.
测试要求：
5.
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