图8.4
（7） 对于SDIN信号，录音，用两个单端探头在codec端分别探BTLOCK、SDIN信号测
试点,重复（4）、（5）（6）操作。
9. DDR2 Test
9.1 Clock
测试设备： 带宽高于5倍被测信号的Tek示波器，两个差分探头，一个单端探头，鼠标，键盘。 测试内容：
High Time/Low Time（tCH、tCL）、Period(tCK)、Cycle to Cycle Jitter
测试原理：
High Time
Low Time
Period
测试步骤：
（1） 开启示波器预热，打开DDR测试软件，连接差分探头，鼠标和键盘。
（2） 通过使用Allegro SPB软件，在电路板上找出DDR接收端时钟信号的测试点。
（3） 接上显示屏，将示波器和电路板共地，开启电路板，运行SPEEDY软件。从测试软
件的菜单选项中选择测试项目CLOCK和测试内容tCH、tCL、tCK、cycle to cycle jitter。
（4） 用一个差分探头点测试点，调试示波器，直到出现需要波形，然后点击运行，示
波器自动抓图、分析数据并生成测试报告。
（5） 查看测试报告数据，并与SPACE比较，最后保存测试报告。
9.2 Write
测试设备：
带宽高于5倍被测信号的Tek示波器，两个差分探头，一个单端探头，鼠标，键盘。
测试内容：
① DQ的建立保持时间tDS与tDH ② DQS与CK的时序tDQSS，tDSS，tDSH 测试原理：
tDS与tDH
tDQSS
tDSS
tDSH
测试步骤：
（1） 开启示波器预热，打开DDR测试软件，连接两个差分探头，一个单端探头，鼠标
和键盘，并校准三个通道。
（2） 通过使用Allegro SPB软件，在电路板上找出DDR接收端时钟信号、DQS信号和
DQ信号的测试点。
（3） 接上显示屏，将示波器和电路板共地，开启电路板，运行SPEEDY软件。从测试软
件的菜单选项中选择测试项目WRITE和测试内容tDS、tDH、tDQSS、tDSS、tDSH。
（4） 分别用两个差分探头点差分信号CLOCK、DQS，用一个单端探头点DQS 对应的DQ，
调节示波器，直到出现需要的波形，然后点击运行，示波器自动抓图、分析数据并生成测试报告。
（5） 查看测试报告数据，并与SPACE比较，最后保存测试报告。 （6） 选择其他要测试的点，重复以上（4）、（5）操作。