信号完整性研发测试攻略2.0 - 图文

示波器,两个单端探头。鼠标,键盘。

测试步骤:

(1) 用两个单端探头的“+”极分别连接数据信号(LA_DATA[3:0])P/N两端的测试点,

探头的“-”端都接电路板的地。

(2) 调节电压,时间和触发,使两束被测信号波形纵向位置相同。波形稳定后抓取波形。

(3) 插入lable,用字符对相应的信号波形进行标注。

(4) 插入marker,将两条横向标尺分别置于波形交点的最大值和最小值处,测出交点

的最大、最小值。保存波形,如图5.5.

图5.5 Common Mode Voltage

判断标准:

判断两条信号线交点的最大值和最小值是否在标准范围(1.0V~1.4V)之内,若符合标准则结果为PASS,否则为FAIL.

5.6 Slew Rate Test

测试设备:

示波器,一个差分探头。鼠标,键盘。 测试步骤:

(1) 使用差分探头连接数据信号差分线对测试点,屏幕出项波形。

(2) 调节时间,幅值和触发按钮,使屏幕只出现一个上升沿或下降沿。波形稳定后,

抓取波形。如图5.6、5.7所示。

(3) 从软件的菜单选项中选择测试项。Measure→Time→Rise time/Fall time.

判断标准:

在测试标准的文档中找出Fall time/ Rise Time的标准值范围,与测试数据进行比对,判断结果是否通过。

图5.6 Rise Time

图5.7 Fall time

5.7 Data to Clock Timing Test

测试设备:

带宽高于5倍被测信号的示波器,两个差分探头,鼠标,键盘。

测试步骤:

(1) 将两个差分探头,鼠标,和键盘都接于示波器。将两组差分探头进行校准。 (2) 测出CLK信号的周期Tc。计算出Tc/14,3Tc/14,5Tc/14,??,11Tc/14,13Tc/14的

时间。 (3) 使用两个差分探头分别连接数据信号和时钟信号的测试点,屏幕出项两组波形。 (4) 调节幅值和位置按钮,使两组波形分别位于屏幕上下方;调节时间基准,是屏幕上

只显示的波形接近一个时钟周期。待波形稳定后,使用余晖功能使信号无限累积,形

成累积轨迹之后,抓取波形。如图5.8所示。

图8 DATA to CLK Timing

(5) 插入lable,用字符对相应的波形进行标注。

(6) 插入marcker,实线和虚线各对应一个通道。CLK对应的横向标尺置于信号的50%处,

纵向标尺经过波形与CLK横标的交点。LA_DATA[3:0]对应的横向标尺置于100mv(或者-100mv)处,纵向标尺分别置于Tc/14处。观察纵标是否在横标与第一个CLK周期

的交点范围内,保存图形。

(7) 移动LA_DATA对应的纵标至3Tc/14处,保存图形。一次类推至13Tc/14,原理如图5.9.

图5.9 DATA to CLK Timing

判断标准:

如果LA_DATA信号对应纵标位置为nTc/14,且位于LA_DATA信号第n个周期与横标的交点范围内,则为pass.否则为fail.原理如图5.10

图5.10 DATA to CLK Timing

注意事项:

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