没其中，使测量工作无法正常进行，这种由噪声所造成的不良效应被称为干扰。而传感器或检测装置需要在各种不同的环境中工作，于是噪声与干扰不可避免地要作为一种输入信号进入传感器与检测系统中。因此系统就不可避免地会受到各种外界因素和内在因素的干扰。为了减小测量误差，在传感器及检测系统设计与使用过程中，应尽量减少或消除有关影响因素的作用。 1. 测量装置常见的噪声干扰有哪几种？通常可采用哪些措施？
解答：常见的干扰有机械干扰（振动与冲击）、热干扰（温度与湿度变化）、光干扰（其他无关波长的光）、化学干扰（酸/碱/盐及腐蚀性气体）、电磁干扰（电/磁场感应）、辐射干扰（气体电离、半导体被激发、金属逸出电子）等。
对由传感器形成的测量装置而言，形成噪声干扰通常有3个要素：噪声源；通道（噪声源到接收电路之间的耦合通道）；接收电路。
按照噪声产生的来源，噪声来源可分为两种：
（１）内部噪声 内部噪声是由传感器或检测电路元件内部带电微粒的无规则运动产生的，例如热噪声、散粒噪声以及接触不良引起的噪声等。
（２）外部噪声 外部噪声则由传感器检测系统外部人为或自然干扰造成的。外部噪声的来源主要为电磁辐射，当电机、开关及其它电子设备工作时会产生电磁辐射，雷电、大气电离及其它自然现象也会产生电磁辐射。在检测系统中，由于元件之间或电路之间存在着分布电容或电磁场，因而容易产生寄生耦合现象，在寄生耦合的作用下，电场、磁场及电磁波就会引入检测系统，干扰电路的正常工作。
根据噪声干扰必须具备的3个要素，检测装置的干扰控制方式主要是消除或抑制干扰源；阻断或减弱干扰的耦合通道或传输途径；削弱接收电路对干扰的灵敏度。
检测装置的干扰噪声控制方法常采用的有屏蔽技术、接地技术、隔离技术、滤波器等硬件抗干扰措施，以及冗余技术、陷阱技术等微机软件抗干扰措施。对其它种类干扰可采用隔热、密封、隔振及蔽光等措施，或在转换为电量后对干扰进行分离或抑制。
第十二章 传感器的标定和传感器
的发展展望
1. 试述静态标定的方法。
解答：标定的基本方法——利用标准仪器产生已知的非电量（如压力、位移等）作为输入量， 输入到待标定的传感器中，然后将传感器的输出量与输入的标准量相比较，获得一系列校准数据或曲线。
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标定过程及步骤：
（1）将传感器全量程（测量范围）分成若干个等间隔点；
（2）按照等间隔点，由小到大逐一输入标准量值，并记录下与各输入值相对应的输出值； （3）再由大到小逐一输入标准量值，同时记录对应的各输出值；
（4）按（2）、（3）所述过程，对传感器进行正、反行程反复循环多次测试，将得到的输出、输 入测试数据用表格列出或画成曲线；
（5）对测试数据进行必要的处理，根据处理结果，可以确定传感器的线性度、灵敏度、滞后和 重复性等静态特性指标。
2. 动静态标定对仪器设备的要求是什么？
解答：对于动态校准系统，除具备静态标定对仪器设备精度等级要求外，还必须具有足够的动 态响应范围。一般要求动态系统的工作频率范围应大于被校准传感器的5—10倍，上升时间应小于被校准传感器上升时间的1/5。如：标准传感器的精度为0.01%，被校传感器的精度可在0.03%～0.05%之内；标准传感器的精度为：0.1%，被校：0.3 %～ 0.5%。 3. 提高传感器性能指标的方法有哪些？
解答：为改善传感器的性能，可采用下列技术途径：差动技术、平均技术、补偿与修正技术、 屏蔽、隔离与干扰抑制、稳定性处理等方法。
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