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1 2 . . . k n n . . . n d1 d2 . . . dk np1 np2 . . . npk npi = di , p = ∑di/kn

3. 管制界限: 假设管制的制程不良率为p'

(制程平均不良率已知) (制程平均不良率未知) UCLnp =μnp + 3σnp=np'+3 ≈ np+3

CLnp =μnp =np' ≈ np LCLnp =μnp - 3σnp=np'-3 ≈ np-3 LCLnp (小于零时不计) 以 p 估计 p'

缺点数管制图分析(c Control Chart)

1. 分析或管制制程的缺点数,样本大小n要相同。 2. c管制图数据表: 序 号 1 2 . . . k 日 期 时 间 样本大小 n n . . . n 缺点数 c1 c2 . . . ck 备 注 cI为n个单位中含有之缺点数 c = ∑ci/n x k ;每一单位之平均缺点数

3. 管制界限: 假设管制的制程每一单位之平均缺点数为c' (制程平均缺点数已知) (制程平均缺点数未知) UCLc = μc + 3σc = nc'+3 ≈ nc + 3 CLp = μc =nc' ≈ nc

LCLc = μc - 3σc = nc'-3 ≈ nc - 3 (小于零时不计) 以 c 估计 c'

单位缺点数管制图分析(u Control Chart)

1. 分析或管制制程的单位缺点数,样本大小n可以不同。 2. u管制图数据表: 序 号 1 2 . . . k 日 期 时 间 样本大小 缺点数 n1 n2 . . . nk c1 c2 . . . ck 单位缺点备 注 数 u1 u2 . . . uk cI为ni个单位中含有之缺点数 ui = ci/ni,u = ∑ci/ni ;每一单位之平均缺点数 3. 管制界限:假设管制的制程每一单位之平均缺点数为c'

(制程平均缺点数已知) (制程平均缺点数未知)

UCLu = μu + 3σu = c'+3 ≈ u + 3 每百万缺点数(dppm Control Chart)

1. 分析或管制制程的每百万检点缺点数,检点数及样本大小n可以不同。 2. dppm管制图数据表: 序 号 日 期 1 2 . . . k 时 间 检点数 chk1 chk2 . . . chkk 样本大小 缺点数 n1 n2 . . . nk c1 c2 . . . ck dppm dppm1 dppm2 . . . dppmk 备 注 cI为nixchkI个检点中含有之缺点数 dppmi = [ci/(ni x chki)] x 106 , u = (∑ci/∑nix chki)x 106 3. 管制界限:假设管制的制程每百万检点平均缺点数为 c'

(制程每百万检点平均缺点数已知) (制程每百万检点平均缺点数未知) UCLdppm=μdppm+ 3σdppm=c'+3 ≈ u+3

CLp =μdppm =c' ≈ u LCLdppm=μdppm- 3σdppm=c'-3 ≈ u-3 以 u 估计 c'

柏拉图分析(Pareto Analysis)

柏拉图分析是以80:20原理进行重点分析的图表,不良/缺点项目依数量之大小排列,横坐标为不良/缺点项目,纵坐标为不良/缺点数量或累积百分比,分析出重点不良/缺点项目供品管人员做为改善之目标。其制作方式如下:

1. 决定分类项目: 以产品或制程订定检查项目或不良原因。 2. 收集数据: 以某一期间收集特定问题的检查记录。 3. 依数量之大小排序整理数据,如下表。 不良/缺点 不良/缺点 数 量 代 号 名 称 1 2 3 . . . k 总 计

A B C . . . K T Q1 Q2 Q3 . . . Qk 累 积 数 量 Q1 Q1+Q2 Q1+Q2+Q3 . . . Q1+Q2+,......Qk 累 积 比 % 百 分 Q1/T (Q1+Q2)/T (Q1+Q2+Q3)/T . . . 100