１ ２ ． ． ． ｋ n n ． ． ． n d1 d2 ． ． ． dk np1 np2 ． ． ． npk npi ＝ di ， p ＝ ∑di／kn
3. 管制界限： 假设管制的制程不良率为p'
(制程平均不良率已知) (制程平均不良率未知) UCLnp ＝μnp ＋ 3σnp＝np'＋3 ≈ np＋3
CLnp ＝μnp ＝np' ≈ np LCLnp ＝μnp － 3σnp＝np'－3 ≈ np－3 LCLnp (小于零时不计) 以 p 估计 p'
缺点数管制图分析(c Control Chart)
1. 分析或管制制程的缺点数，样本大小n要相同。 2. c管制图数据表： 序 号 １ ２ ． ． ． ｋ 日 期 时 间 样本大小 n n ． ． ． n 缺点数 c1 c2 ． ． ． ck 备 注 cI为n个单位中含有之缺点数 c ＝ ∑ci／n x k ；每一单位之平均缺点数
3. 管制界限： 假设管制的制程每一单位之平均缺点数为ｃ' (制程平均缺点数已知) (制程平均缺点数未知) UCLc ＝ μc ＋ 3σc ＝ nc'＋3 ≈ nc ＋ 3 CLp ＝ μc ＝nc' ≈ nc
LCLc ＝ μc － 3σc ＝ nc'－3 ≈ nc － 3 (小于零时不计) 以 c 估计 ｃ'
单位缺点数管制图分析(u Control Chart)
1. 分析或管制制程的单位缺点数，样本大小n可以不同。 2. ｕ管制图数据表： 序 号 １ ２ ． ． ． ｋ 日 期 时 间 样本大小 缺点数 n1 n2 ． ． ． nk c1 c2 ． ． ． ck 单位缺点备 注 数 u1 u2 ． ． ． uk cI为ni个单位中含有之缺点数 ui ＝ ci／ni，u ＝ ∑ci／ni ；每一单位之平均缺点数 3. 管制界限：假设管制的制程每一单位之平均缺点数为ｃ'
(制程平均缺点数已知) (制程平均缺点数未知)
UCLu ＝ μu ＋ 3σu ＝ c'＋3 ≈ u ＋ 3 每百万缺点数(dppm Control Chart)
1. 分析或管制制程的每百万检点缺点数，检点数及样本大小n可以不同。 2. dppm管制图数据表： 序 号 日 期 １ ２ ． ． ． ｋ 时 间 检点数 chk1 chk2 ． ． ． chkk 样本大小 缺点数 n1 n2 ． ． ． nk c1 c2 ． ． ． ck dppm dppm1 dppm2 ． ． ． dppmk 备 注 cI为nixchkI个检点中含有之缺点数 dppmi ＝ [ci／(ni x chki)] x 106 ， u ＝ (∑ci／∑nix chki)x 106 3. 管制界限：假设管制的制程每百万检点平均缺点数为 c'
(制程每百万检点平均缺点数已知) (制程每百万检点平均缺点数未知) UCLdppm＝μdppm＋ 3σdppm＝c'＋3 ≈ u＋3
CLp ＝μdppm ＝c' ≈ u LCLdppm＝μdppm－ 3σdppm＝c'－3 ≈ u－3 以 u 估计 c'
柏拉图分析(Pareto Analysis)
柏拉图分析是以80:20原理进行重点分析的图表，不良／缺点项目依数量之大小排列，横坐标为不良／缺点项目，纵坐标为不良／缺点数量或累积百分比，分析出重点不良／缺点项目供品管人员做为改善之目标。其制作方式如下：
1. 决定分类项目： 以产品或制程订定检查项目或不良原因。 2. 收集数据： 以某一期间收集特定问题的检查记录。 3. 依数量之大小排序整理数据，如下表。 不良／缺点 不良／缺点 数 量 代 号 名 称 １ ２ ３ ． ． ． ｋ 总 计
Ａ Ｂ Ｃ ． ． ． Ｋ Ｔ Q1 Q2 Q3 ． ． ． Qk 累 积 数 量 Q1 Q1＋Q2 Q1＋Q2＋Q3 ． ． ． Q1＋Q2＋,......Qk 累 积 比 ％ 百 分 Q1／T (Q1＋Q2)／T (Q1＋Q2＋Q3)／T ． ． ． 100