60. 通常认为对比度,清晰度,颗粒度是决定射线照相灵敏度的三个主要因素。 ( ) 6l. 胶片对比度和主因对比度均与工件厚度变化引起的黑度差有关. ( ) 62. 使用较低能量的射线可提高主因对比度,但同时会降低胶片对比度。 ( ) 63. 射线照相主因对比度与入射线的能谱有关,与强度无关。 ( ) 64.※ 当缺陷尺寸小于几何不清晰度尺寸时,影像会被放大,而对比度则降低。 ( ) 65.※ 可使用微粒胶片弥补因几何不清晰度而降低的射线照相灵敏度。 ( ) 66.※ 如果信噪比不够,即使增大胶片衬度,也不可能识别更小的细节影 ( ) 67.※ 用增大射源到胶片距离的方法可减小射线照相固有不清晰度。 ( ) 68.※ 利用阳极侧射线照相所得到的底片几何不清晰度比阴极侧小。 ( ) 69.※ 增大最小可见对比度ΔDmin,有助于识别小缺陷。 ( ) 70.※ 光电效应和康普顿效应产生的散射线使射线照相清晰度和对比度降低。 ( ) 71.※ 对不同型式的像质计来说,只要采用相同的透照技术,像质计灵敏度的

数值一般都相同。 ( )

72.※ 像质计灵敏度1.5%,就意味着尺寸大于透照厚度l.5%的缺陷均可被检出。 ( ) 73. 射线透照方向的选择,应尽可能使工件透照厚度差减小。 ( ) 74.※ 在实际使用的焦距范围〈l00--l000mm〉内,焦距的变化对散射比的数值

几乎没有影响。 ( ) 75. 只要底片达到特定的黑度值(如最佳黑度值),而不管μP/（1+n）如何,

底片上可识别的象质计金属丝直径必然最小。 ( )

76. 一般说来,胶片粒度大的衬度小,粒度小的衬度就大。 ( ) 77. 胶片的粒度越大,固有不清晰度也就越大。 ( ) 78. 当射线管电压高到一定数值时,就会在胶片上产生静电花纹。 ( ) 79. 采用荧光增感时,由于“互易定律失效”,不能根据曝光因子公式修正

透照参数。 ( ) 80. 如怀疑背散射线影响清晰度,可在工件与胶片之间放一铅字来验证背散

射线的存在。 ( ) 81. 滤板厚度改变时所绘制的x射线胶片特性曲线形状和位置均会改变。 ( ) 82. 用单壁法透照环焊缝时,所有搭接标记均应放在射源侧工件表面,以免

端部缺陷漏检。 ( ) 83. 厚工件中的紧闭裂纹,即使透照方向适当,也难以被检出。 ( ) 84. 对某一曝光曲线,应使用同一类型的胶片,但可更换不同的x射线机。 ( ) 85. 使用γ射线曝光曲线时,首先应知道射线源在给定时间的活度。 ( ) 86. 如果已知等效系数,用x射线曝光曲线来代替γ射线曝光曲线,也能求出

曝光。 ( )

87. 用γ射线透照厚度差较大的工件时,也可采用放置滤板的方法增大

宽容度。 ( )

88. 透照有余高的焊缝时,所选择的“最佳黑度\就是指能保证焊缝部位和母材

部位得到相同透度计灵敏显示的黑度值。 ( ) 89. 透照很薄的试件和轻合金时,能量的选择要比透照厚工件时严格得多。 ( )

２９

90.※ 用2,5,8,l8和31MeV这些高能x射线透照大厚度工件时,可以达到的探伤

灵敏度几乎相同。 ( )

9l.※ 使用γ射线或高能x射线透照厚工件时,胶片类型和胶片黑度的选择十分

重要。 ( ) 92.※ 在MeV级高能射线照相中,能量越高,则照射场尺寸越大。 ( ) 93.※ 就设备性能而言,在高能射线照相中照射场尺寸显得十分重要,而焦点

尺寸显得较不重要。 ( )

94.※ 采用不同的透照方法能获得相同的金属丝像质计灵敏度,但不一定能

给出相同的裂纹检出灵敏度。 ( ) 95.※ 实验表明,胶片颗粒性对平板孔型像质计中小孔影象显示的影响,要比

对线型像质计中金属丝影像的显示影响小得多。 ( )

96.※ 采用换算的方法,可将某种材料制作的像质计用于不同吸收系数的材料

透照时的像质评价。 ( ) 97.※ 使用衬度较低的射线胶片,必要时采用单面乳制胶片,可增大透照厚度

宽容度。 ( ) 98. 增大透照厚度宽容度最常用的办法是适当提高射线能量。 ( ) 99. 用两张感光速度相同的胶片装在同一暗盒中透照工件,每张胶片黑度

均为l.0,这两张胶片叠合一起时得到的衬度与单张胶片黑度为2.0时 的衬度相同。 ( ) l00. 射线透过有余高焊缝后到达胶片上的散射比,总小于透过厚度与焊缝

相同的平板后到达胶片的散射比。 ( ) 101. 胶片曝光部分愈多,耗费的显影液也愈多。 ( ) l02. 如果显影时间过长,有些未曝光的AgBr也会被还原,从而增大了底片灰雾。 ( ) 103. 显影液中氢离子浓度增大,则显影速度减慢,故借助于碱使显影液保持

一定pH值。 ( ) 104. 在定影液中氢离子浓度越高,定影能力越强。 ( ) l05.※在显影过程中,KBr中的Br离子被吸附在AgBr表面形成负电层,因而能

排斥显影剂负离子对未曝光的AgBr的还原作用,防止灰雾生成。 ( ) l06. 对曝光不足的底片,应采用增加显影时间或提高显影温度的方法来增加

底片黑度,从而获得符合要求的底片。 ( )

107. 胶片在显影液中显影时,如果不进行任何搅动,则胶片上每一部位都会

影响其下方部位显像。 ( ) 108. 定影液两个作用是：溶解未曝光的AgBr和坚膜作用。 ( ) 109. x射线比γ射线更容易吸收，所以x射线对人体有更大的危害性 。 ( ) 110. 照射量只适用于x射线和γ射线，不能用于其它射线。 ( ) 111. 按GB4792—84规定，放射工作人员连续三个月内一次或多次接受的

总剂量当量不得超过年剂量限值（即50mSv）的一半。 ( ) 112. 透照小于等于89mm的管子焊缝时，要求达到的像质指数，按管子单壁

厚度查表确定。 ( )

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113. 多个管子接头在一张底片上同时显现时，至少应放一个像质计，且置于

最边缘的那根管子上。 ( )

114. R10系列像质计共分三个型号，每个像质计中，最细线直径均为最粗线

直径的1/4，而中间一根线的直径为最粗线直径的1/2。 ( ) 115. 对于单壁外透照100%检验的环缝而言，当底片端部有条状夹渣时，

应将该端搭接标记重叠接长观察评定。 ( )

116. 圆形缺陷长径大于1/2板厚时应评为Ⅳ级。 ( ) 117. Ⅰ级焊缝和母材厚度≦5mm的Ⅱ级焊缝内，不计点数的圆形缺陷在

评定区内不得多于10个。 ( )

118. 按GB3323-87规定，长宽比小于3的缺陷定义为圆形缺陷。 ( ) 119. 有一母材厚度为24mm的Ⅲ类容器，在平行焊缝的一条直线上有两组

夹渣，单个尺寸小于1/3T，其总长分别为21mm和10mm，在12T焊缝 长度内仅有此二组夹渣，该底片应评为不合格。 ( )

120. 有一板厚为30mm的焊缝，其焊缝总长为100mm，在一直线上发现两个

条状夹渣，分别为5mm和6mm，间距为25mm，按GB3323-87标准评

为Ⅱ级。 ( ) 121. 采用双壁单影透照大于89mm管子对接焊缝时，焦距F选择的越大，

一次透照长度越小。 ( )

122. 源在内，透照曲面工件，当焦距F小于R（曲率半径）时，按GB3323—87

标准要求，为保证不漏检，搭接标记应放在胶片侧。 ( ) 123. 按GB3323—87规定，双壁单影透照的像质指数比单壁单影透照的像质

指数可减少1。 ( ) 124. DL/T5069-1996适用于电力系统制作、安装发电设备时，单面施焊双面

成型的各种承压管子、管道和集箱对接焊缝的x射线和γ射线透照 检验。 ( ) 125. DL/T5069-1996规定射线检验作业指导书的编制，应由Ⅱ级以上人员担任，

Ⅲ级人员负责审核。 ( )

126. DL/T5069-1996规定，外径大于76mm且小于等于89mm的管子，其对接

接头透照应采用规定的Ⅰ型或Ⅱ型专用像质计。 ( ) 127. DL/T5069-1996规定，对于管径小于等于89mm，壁厚大于10mm的管子对接

接头，宜采用γ射线源进行透照。 ( ) 128. 通常情况下，随着射线能量的减少，透照图象的对比度增加。因此，在

穿透力许可的情况下，应尽量采用较低的射线能量。 ( )

129. 当采用射线探伤方法对厚壁管道对接接头进行焊接过程的中间检验时，

应在焊缝的下部焊接厚度为20mm左右时进行。 ( ) 130. DL/T5069-1996规定外径小于等于76mm的管子对接接头，用双壁双影方法，

其透照厚度的计算式应为TA=0.8(D?T)T+T。 （ ） 式中D——管子外径，T——管子壁厚

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131. 厚壁管道的中间检验，底片质量的评定是按中间透照时的焊缝厚度来计算 （ ） 132. 当对接接头两侧的母材厚度不等时，应取较厚侧的厚度为评片依据。 （ ） 133. 某管子按氩弧焊打底电弧焊盖面施焊，发现有一根部未焊透缺陷，其深度

和长度均未超过Ⅱ级，应评为Ⅱ级。 （ ） 134. 对易产生裂纹的锅炉受热面管子对接接头，采用垂直透照，即前后壁焊缝

重叠，能提高裂纹的检出率。 （ ）

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135. 板厚为16mm的压力容器，用Co进行射线检验是合适的。 （ ） 二、选择题

1. 同位素是( )的元素。

A. 质量相同而中子数不同 B. 质量数相同而质子数不同 C. 中子数相同而质子数不同 D. 质子数相同而中子数不同 2. 使入射射线强度衰减一半所需物质厚度，称为 A．半衰期 B．电子层 C．半价层

3. 当光子与物质相互作用时，光子波长变长，运动方向改变，这是由于 的结果。

A．光电效应 B．康普顿效应 C．汤姆逊效应 D．电子对效应。4. 与x射线相比，γ射线探伤优点是 A．设备简单 B．设备体积小 C．不用电源 D．以上都是 5. Co60

的半衰期5.3年，存放8年后，曝光时间应增加 A．35% B．65% C．185% D．57%

6. 高速运行的电子与靶相碰时，与靶的（ ）相互作用产生x射线。

A．自由电子 B．原子核的质子 C．壳层电子 D．原子核外的库仑场 7. 金属增感屏增感原理是产生（ ）。

A．二次电子 B．荧光 C．中子 D．β射线

8. 射线照相使用增感屏的主要目的是 A．提高对比度 B．提高清晰度 C．缩短曝光时间 D．改善分辨力

9. 配制显影液时水温不得高于 A．30℃ B．40℃ C．50℃ D．60℃ 10. 胶片特性曲线上，过两个特定点的直线斜率是表征 A．工件反差 B．底片反差 C．胶片反差 D．灵敏度

11. 铅增感屏的深度划伤会在底片上产生黑线主要是因为 A．铅增感减薄透过射线过多 B．增大表面积发射电子过多 C．散射射线增加 D．二次x射线增多 12. 与低能x射线透照底片相比，高能x射线透照 A．宽容度大 B．对比度高 C．探伤灵敏度高 D．以上都不对 13. 槽型象质计可以用于估计 A．气孔尺寸 B．未熔合尺寸 C．未焊透深度 D．都不对

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