249.金属增感屏（金属箔或衬纸）的表面应光滑清洁和平整()

250.金属箔的表面不应有肉眼可辨的孔洞、划痕、擦伤、皱纹、油污、氧化等() 251.金属增感屏的表面质量可用肉眼在白光下进行检查()

252.晶粒较粗大的材料，在一定的射线透照条件下，射线底片上可能产生衍射斑纹() 253.用偏心内透照法100%检验容器的环焊缝，当焦距大于容器外半径时，为了防止漏检，应将搭接标记放在胶片侧()

254.环焊缝中横向缺陷的检出率，在焦距相同的情况下，内照法优于外照法() 255.一般来说，曝光量只有选择在胶片特性曲线的直线部分才易于发现缺陷() 256.透照容器环焊缝时选择焦距的原则是：采用内透照法应优先考虑厚度比K和失真角θ；采用外透照法应优先考虑几何不清晰度Ug（）

257.要在一张底片上显示出母材不等厚的焊缝影像，必须采用低电压和荧光增感（） 258.为了获得高衬度和高清晰度的射线图像，在选择X射线机时，焦点的有效面积应尽可能大（）

259.当设计低压X射线管时，为了考虑到滤波、效率、散热等因素，X射线管的窗口一般采用铜合金制成（）

260.采用中子照相法时，其曝光需要先经过转换屏转换，然后再使用X射线胶片曝光()

261.采用中子照相法时，其曝光方法是利用荧光增感屏+X射线胶片曝光（）

262.一般采用钴60照射钢材时，适用的检查厚度范围在270毫米以内或其当量厚度（）

263.钴60的半衰期为5.3年，如该放射源已存放三年，则透照时的曝光时间应增加约70%（）

264.铱192的半衰期为75天，若目前检验工件的最佳曝光时间为20分钟，则经过150天后，在相同的摄影条件下要达到同样的黑度，曝光时间需要120分钟（） 265.假定管电压和曝光时间一定，在焦距500毫米和管电流5毫安的情况下可得到曝光适宜的底片，若把焦距增加到1000毫米，则应采用10毫安的管电流才能得到相同的曝光量（）

266.已知铱192源的放射性强度为10居里，在焦距400毫米时可得到正确的曝光量，若其他条件不变，把焦距增加到800毫米，则要求更换放射性强度为60居里的新源（）

267.对于管电压和管电流都不变的某一曝光量，当焦距从1200毫米减少到800毫米时，其曝光时间将从原来的10分钟缩短到4.4分钟() 268.已知铱192源在距离1米时的曝光时间为60分钟，如果把曝光时间缩短为15分钟，则需要将距离缩短到0.25米（）

269.在胶片特性曲线上连接给定两点密度的直线的斜率称为曝光范围（） 270.根据胶片特性曲线上的斜率可以判别胶片的密度（） 271.通过增大焦距，可以起到降低底片衬度的作用（） 272.利用仪表测量法可以测定X射线管的焦点（）

273.用铅箔做增感屏时，若X射线管电压太高，会产生磷光现象（） 274.若仅从高清晰度的需要出发，焦距应尽可能长()

275.在X射线管窗口处加装滤光板可以使X射线强度均匀化（）

276.铅的密度是11.4，钢的密度是7.8，铅的密度约是钢的1.5倍，用220KV的X射线进行照相时，2.5mm厚的铅吸收相当于30mm厚钢的吸收，因此铅的吸收是钢的24倍（）

277.使用铅或铅化锑高原子序数增感屏的目的是为了降低摄片的条件和降低对底片的要求（）

278.关于底片清晰度，它与焦点大小和物体至胶片的距离成反比（） 279.粒度大的X射线胶片其照相的清晰度比粒度小的胶片差()

280.强度一定的两种同位素源，若其放射性比活度值不同，则对放射性比活度值较高的源来说，其半衰期比放射性比活度值低的源长（）

281.提高荧光屏观察法（即时射线成像）灵敏度的主要困难是成本高和速度慢（） 282.表达式：（毫安x时间）/距离平方，称之为照相的对比度（） 283.表达式：（毫安x时间）/距离平方，称之为互易定律（）

284.在X射线管和胶片距离一半处放置一块用高密度材料制成并钻有小孔的板，这是用来测量软化X射线的能量（）

285.在试样周围放置铅板的目的是产生较短波长的X射线辐射（） 286.X射线照相时使用的电压值高或低，其衬度不变（）

287.胶片的增感因子在40-400KV之间的变化情况是随着电压增大，增感因子增大（） 288.胶片的增感因子在40-400KV之间的变化情况是随着电压增大，增感因子变小（） 289.如果荧光增感屏的种类一定，则感光速度主要取决于荧光物质的颗粒度，颗粒越大，感光速度越慢（）

290.根据黑度D的定义，其数学表达式为：D=lg(L/L0) 式中：L0-透过底片前的光强度；L-透过底片后的光强度（）

291.在胶片背面放一个“B”铅字，曝光后冲洗出来的底片上出现该铅字的影像，说明对背散射的防护适当（）

292.工件内部如有一面积型缺陷，当该缺陷面与射线投照方向成90°夹角时，在底片上的影像最清晰（）

293.220KV的X射线对钢和铜进行射线照相，两者的厚度当量系数为1:1.4，若以12mm的铜板进行射线照相时的曝光条件对钢进行射线照相，则该钢板的厚度应为25mm（） 294.当用观片灯观察底片时，为了获得更直观的效果，在曝光时采用不同方向摄取两张底片的特殊照相方法，称之为立体射线照相法()

295.在同一张底片上，做两个不同位置的X射线照相，可以确定缺陷的深度，根据缺陷阴影的移动，相对于试样固定标志的图像可以计算出缺陷的深度，这种方法称之为深度定位视差法()

296.在同一张底片上，做两个不同位置的X射线照相，可以确定缺陷的深度，根据缺陷阴影的移动，相对于试样固定标志的图像可以计算出缺陷的深度，这种方法称之为立体射线照相法（）

297.在同一张底片上，做两个不同位置的X射线照相，可以确定缺陷的深度，根据缺陷阴影的移动，相对于试样固定标志的图像可以计算出缺陷的深度，这种方法称之为空间投影法（）

298.定影液使用一段时间后，由于定影液中可溶解的银盐浓度增加，导致定影效果下降()

299.定影液使用一段时间后，由于定影液成分被挥发，导致定影效果下降（） 300.荧光增感屏经常受到强光照射或紫外线照射后，会导致颜色改变和丧失一些光泽()

301.荧光增感屏因为经常受到强光照射或紫外线照射导致颜色改变和丧失一些光泽时，可以用弱射线照射使其恢复原有的状态（）

302.在制作胶片特性曲线时，如果增加显影时间，会使胶片特性曲线变得更陡，并且向左移动()

303.在制作胶片特性曲线时，如果增加显影时间，会使胶片特性曲线变得更陡，并且向右移动（）

304.采用高KV值X射线照相法的特点是能获得较高的对比度（）

305.采用高KV值X射线照相法的特点是适用于厚试样或吸收系数大的试样的照相() 306.当采用高KV值X射线照相法时，几乎所有的曝光均需要使用铅箔增感屏() 307.当采用荧光屏观察法时，几乎所有的曝光均需要使用铅箔增感屏（） 308.一般用于荧光屏观察法的观察窗口是用硼硅酸玻璃制成的（） 309.一般用于荧光屏观察法的观察窗口是用光学玻璃制成的（）

310.当其他操作条件保持不变，管电流的变化会引起X射线管发生的射线强度的变化，但是其强度的变化只是大致与管电流的变化成比例，而不能完全按比例变化，这是因为波长的变化不完全成比例（）

311.当其他操作条件保持不变，管电流的变化会引起X射线管发生的射线强度的变化，但是其强度的变化只是大致与管电流的变化成比例，而不能完全按比例变化，这是因为管电压和X射线设备的电压波形会随着负载发生变化()

312.当其他操作条件保持不变，管电流的变化会引起X射线管发生的射线强度的变化，但是其强度的变化只是大致与管电流的变化成比例，而不能完全按比例变化，这是因为电流在线性比率上才能改变（）

313.当其他操作条件保持不变，管电流的变化会引起X射线管发生的射线强度的变化，但是其强度的变化只是大致与管电流的变化成比例，而不能完全按比例变化，这是因为散射线不能按比率变化()

314.观察底片时要注意辨别胶片暗盒背面图像重叠在试样的图像上，因为它很可能是因为底片高度曝光的原因造成的()

315.观察底片时要注意辨别胶片暗盒背面图像重叠在试样的图像上，因为它很可能是因为X射线强度太高的原因造成的()

316.观察底片时，要注意辨别胶片暗盒背面图像重叠在试样的图像上，因为它很可能是因为背散射的原因造成的()

317.由于X射线在粗晶材料中可能发生衍射效应，因此散射的特殊表现形式是底片的衬度差()

318.由于X射线在粗晶材料中可能发生衍射效应，因此散射的特殊表现形式是底片上出现斑点()

319.拍摄具有厚薄差异的试件时，为了同时得到不同厚薄处具有相同黑度的底片，一般可采用荧光增感屏法()

320.拍摄具有厚薄差异的试件时，为了同时得到不同厚薄处具有相同黑度的底片，一般可采用在暗盒内同时装两张相同的胶片重叠曝光()

321.拍摄具有厚薄差异的试件时，为了同时得到不同厚薄处具有相同黑度的底片，一般可采用在暗盒内同时装两张具有不同感光速度的胶片重叠曝光()

322.如果放射源的尺寸较大，为了获得质量较高的底片，可以考虑增大射源至胶片的距离()

323.如果放射源的尺寸较大，为了获得质量较高的底片，可以考虑采用感光速度快的胶片()

324.射线照相时，底片边缘未经直接曝光而出现黑度较高的区域，这是由于试件几何形状不规则引起的()

325.射线照相时，底片边缘未经直接曝光而出现黑度较高的区域，这是由于铅屏蔽引起的()

326.装在暗盒内而未经曝光的胶片边缘呈有淡黑色的原因是胶片本身质量有问题() 327.装在暗盒内而未经曝光的胶片边缘呈有淡黑色的原因是受到宇宙射线曝光() 328.装在暗盒内而未经曝光的胶片边缘呈有淡黑色的原因是暗盒边缘处漏光() 329.装在暗盒内而未经曝光的胶片边缘呈有淡黑色的原因是受到散射线照射() 330.底片上产生树枝状影像的原因是显影液搅拌不均匀()

331.底片上产生树枝状影像的原因是装拆胶片时摩擦产生静电火花放电() 332.使用透度计的目的是要知道X射线和γ射线的穿透特性的好坏() 333.使用透度计的目的是要知道所透照的底片质量好坏()

334.线状透度计和孔型透度计相比较，线状透度计难以看得清() 335.线状透度计和孔型透度计相比较，孔型透度计容易看得清()

336.工业射线检测使用的胶片与一般胶片之间最大的差别是双面涂乳剂() 337.工业射线检测使用的胶片与一般胶片之间最大的差别是单面涂乳剂() 338.胶片经曝光后产生的潜影能够被肉眼观察到()

339.胶片经曝光后产生的潜影在红灯下能够被肉眼观察到() 340.确定胶片密度和胶片速度的方法是利用特性曲线进行比较()

341.确定胶片密度和胶片速度的方法是通过与一张已知速度的胶片进行比较() 342.未经射线曝光的胶片经暗室处理后，发现底片上存在模糊的淡黑色，这称之为胶片的本底化学灰雾度()

343.钢板厚度15毫米，双面焊冠之和为5毫米的焊接件，在底片上能发现最小直径为0.4毫米的钢丝透度计，此时所达到的灵敏度即是约为2.7%() 344.在进行焊缝射线照相时，线型透度计一般是放置在钢板上面() 345.在进行焊缝射线照相时，线型透度计一般是放置在焊缝上面()

346.对大晶粒金属零件进行射线照相时，为了减轻衍射斑点的影响，可以提高管电压并使用荧光增感屏()

347.对大晶粒金属零件进行射线照相时，为了减轻衍射斑点的影响，可以降低管电压并使用铅箔增感屏()

348.对大晶粒金属零件进行射线照相时，为了减轻衍射斑点的影响，可以提高管电压并使用铅箔增感屏()

349.对大晶粒金属零件进行射线照相时，为了减轻衍射斑点的影响，可以降低管电压并使用荧光增感屏()

350.对显影液添加补充液时，一般在添加的补充液量达到原来显影液量的4倍时，该显影液应该报废，而不应无限制地添加补充液()

351.对显影液添加补充液时，一般在添加的补充液量达到原来显影液量的7倍时，该显影液应该报废，而不应无限制地添加补充液()

352.底片上焊缝中心部位出现的长度和宽度不等的连续或间断的长条形黑色影像很可能是裂纹()

353.底片上焊缝中心部位出现的长度和宽度不等的连续或间断的长条形黑色影像很可能是未焊透（熔入不足）()

354.底片上焊缝中心部位出现的长度和宽度不等的连续或间断的长条形黑色影像很可能是夹杂()

355.底片上焊缝中心部位出现的长度和宽度不等的连续或间断的长条形黑色影像很可能是疏松()