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这些机电元器件主要有：照相机camera sensor，喇叭speaker，振动器vibrator，受话器receiver，显示屏LCD，买克风microphone，背光灯LED，天线antenna，霍耳开关Hall IC，磁铁Magnet，屏蔽罩shielding case，侧按键side switch，射频连接器RF connector，SIM卡连接器SIMcard holder，系统连接器I/O connector，电池连接器battery connector，以及板与板(PCB或者FPCB)连接器B-B connector，柔性电路板FPC低/零插拔力连接器ZIF/LIF connector等。
根据功能的要求，有时还会有触摸屏Touch panel，闪光灯Flash LED，耳机插座Audio Jack，存储卡插座SD/MMC card holder，USB插座等。
关于上述各种结构部件及机电元器件的设计和选择，都是有经验可循的，只要多研究别人的设计，多学习新的工艺和结构，遇到问题从多角度去分析并找到解决问题的正确办法，就一定能积累丰富的经验，使得在以后的设计过程中能得心应手。
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第二章 手机可靠性测试标准
了解了手机的一般结构之后，在开始结构设计之前，需要清楚地知道一部手机要达到上市的要求需要通过哪些测试，达到什么样的标准。
手机可靠性测试（PRT）的目的是在特定的可接受的环境下不断的催化产品的寿命和疲劳度，可以在早期预测和评估产品的质量和可靠性。手机结构设计工程师必须通晓可靠性测试的所有标准，在设计阶段就必须采取正确的设计和选择合适的材料来避免后续产品的质量和可靠性问题。手机的入网认证必须经过国家的可靠性测试，而且越来越严格，要求也越来越高，这就对我们的设计提出了更高的要求。
可靠性测试包括六个部分:加速寿命测试，气候适应测试，结构耐久测试，表面装饰测试，特殊条件测试，及其他条件测试。
2.1. 加速寿命测试ALT （Accelerated Life Test） ? 样机标准数量： PR1：10台 PR2：12台 PR3：12台 PIR：12台 ? 试验周期： 10-12天
室温下参数测试 高温高湿 测试
(20~25° C) 60° C /95%RH/60hrs
冷热冲击测试 2nd 跌落测试
-30° C /70° C /90min/27cycles 6/8 faces / 1.5m
1st 跌落测试 静电ESD测试
6/8 faces / 1.5m 4Kv contact/ 8Kv Air
室温下参数测试 振动测试 (20~25° C) 1hr/axis
2.1.1 室温下参数测试 （Parametric Test）
2.1.2 温度冲击测试（Thermal Shock）
? 测试环境：低温箱：-30° C ；高温箱：+70° C
? 试验方法：手机带电池，设置成关机状态先放置于高温箱内持续45分钟后，在15秒内迅速移
入低温箱并持续45分钟后，再15秒内迅速回到高温箱。此为一个循环，共循环27次。实验结束后将样机从温度冲击箱（高温箱）中取出，恢复2小时后进行外观、机械和电性能检查。对于翻盖手机，应将一半样品打开翻盖；对于滑盖手机，应将一半样品滑开到上限位置。
? 试验标准：手机表面喷涂无异变，结构无异常，功能正常，可正常拨打电话。
2.1.3 跌落试验（Drop Test）
? 测试条件：1.5m高度，20mm厚大理石地板。（对于触摸屏手机,跌落高度为1.3m）
? 试验方法：将手机处于开机状态进行跌落。对于直握手机，进行6个面的自由跌落实验，每个
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面的跌落次数为1次，每个面跌落之后进行外观、结构和功能检查。对于翻盖手机，进行8个面的自由跌落实验；其中一半样品合上翻盖按直握手机的方法进行跌落，另一半样品在跌正面和背面时须打开翻盖。跌落结束后对外观、结构和功能进行检查。
? 试验标准：手机外观，结构和功能符合要求。
2.1.4 振动试验（Vibration Test）
? 测试条件：振幅：0.38mm/振频：10~30Hz；振幅：0.19mm/振频：30~55Hz； ? 测试目的：测试样机抗振性能
? 试验方法：将手机开机放入振动箱内固定夹紧。启动振动台按X、Y、Z三个轴向分别振动1个
小时，每个轴振完之后取出进行外观、结构和功能检查。三个轴向振动试验结束后，对样机进行参数测试。
? 试验标准：振动后手机内存和设置没有丢失现象，手机外观，结构和功能符合要求，参数测试
正常，晃动无异响。
2.1.5 湿热试验（Humidity Test）
? 测试环境：60° C，95%RH
? 测试目的：测试样机耐高温高湿性能
? 试验方法：将手机处于关机状态，放入温湿度实验箱内的架子上，持续60个小时之后取出，常
温恢复2小时，然后进行外观、结构和功能检查。对于翻盖手机，应将一半样品合上翻盖，一半样品打开翻盖；对于滑盖手机，应将一半样品滑开到上限位置。
? 试验标准：手机外观，结构和功能符合要求。
2.1.6 静电测试（ESD）
? 测试条件：+/-4kV~+/-8kV，开机并处于充电状态，+/-4kV接触和~+/-8kV空气放电各10次。
具体测试方法详见公司测试标准细则。
? 测试目的：测试样机抗静电干扰性能 ? 试验标准：在+/-4Kv 和 +/-8Kv时出现任何问题都要被计为故障。
2.2.气候适应性测试 （Climatic Stress Test） ? 样品标准数量：一般气候性测试 5 台； 恶劣气候性测试 3 台。共8台。 ? 测试周期：7 天。 ? 测试目的： 模拟实际工作环境对产品进行性能测试。
一般气候性测试 恶劣气候性测试
灰尘测试 常温参数测试 高温高湿参数测试 35°C / 3 hrs +45° C /95%RH/48hrs 20~25° C
高温功能测试 低温参数测试 盐雾测试 -25°C /2hrs +70°C /24 hrs 35°C /5%/48hrs 高温参数测试 +55°C/2hrs
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高温功能测试 -40°C /24 hrs MOBILE PHONE MECHANICAL DESIGN
A： 一般气候性测试：
2.2.1.高温/低温参数测试（Parametric Test）
? 测试环境：-25° C /+55°C；持续2小时；手机电池充满电，手机处于开机状态。 ? 测试目的：高温/低温应用性性能测试
? 试验方法：对于翻盖手机，应将一半样品合上翻盖，一半样品打开翻盖；对于滑盖手机，应将
一半样品滑开到上限位置。
? 试验标准：手机电性能参数指标满足要求，功能正常，外壳无变形。 2.2.2.高温高湿参数测试（Parametric Test）
? 测试环境：+45° C，95%RH；持续48小时；手机电池充满电，手机处于开机状态。 ? 测试目的：高温高湿应用性性能测试
? 试验标准：手机电性能指标满足要求，功能正常，外壳无变形。 2.2.3.高温/低温功能测试（Functional Test）
? 测试环境：-40° C /+70°C，2小时，恢复至常温，然后进行结构，功能和电性能检查。? 测试目的：高温/低温应用性功能测试 B：恶劣气候性测试
2.2.4.灰尘测试（Dust Test）
? 测试环境：室温，灰尘大小300目，持续3个小时。详细测试方法见公司测试标准细则。? 测试目的：测试样机结构密闭性
? 试验标准：手机各项功能正常，所有活动元器件运转自如，显示区域没有明显灰尘。 2.2.5.盐雾测试（Salt fog Test）
? 测试环境：35°C; 5%的氯化钠溶液；关机；合上翻盖；样机用绳子悬挂起来；48小时。? 测试目的：测试样机抗盐雾腐蚀能力
? 试验标准：常温干燥后，手机各项功能正常，外壳表面及装饰件无明显腐蚀等异常现象。
2.3.结构耐久测试 （Mechanical Endurance Test） ? 样品标准数量：11 台。 ? 测试周期：7 天。 ? 测试目的：各结构件寿命测试。
结构耐久性测试
按键测试 侧键测试 翻盖/滑盖 重复跌落 充电插拔 100,000 次100,000次 50,000 次 20,000 次 3,000次 电池/盖 耳机插拔 笔插拔 SIM卡插拔 2,000 次 3,000 次 20,000次 1,000次 线拉拽 线弯曲 线摆动 100次 3,000次 3,000次 触摸屏点击测试 触摸屏划线测试 STEP Confidential Information
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