第1、2章复习题

一、名词解释

1、光性均质体/光性非均质体2、双折射3、光率体/光性指示体4、光性方位、5显微结构 二、作图题

1、一轴晶负光性光率体的三个主要切面

2、二轴晶正光性光率体的光轴面（标明各主轴及光轴的位置） 3、二轴晶负光性光率体的光轴面（标明各主轴及光轴的位置）

三、问答题：

1、光在什么条件下产生双折射？双折射形成的偏光有何特征？ 2、简述一轴晶、二轴晶晶体的光性方位。 3、一轴晶、二轴晶之光性正负如何确定？

四、计算题 1、平行金红石（四方）（100）晶面取一薄片，在折射率仪中测得C轴方向为2.616，垂直C轴方向为2.832；试绘出其光率体，并写出最大双折射率及其光性正负。 2、平行莫来石（斜方）斜方柱面（110）取一切面测得最大折射率为1.654，垂直斜方柱面另取一切面（001）面测得其折射率变化在1.644-1.642之间。已知光轴面//（010），试绘出其光率体并写出最大双折射率、光性符号、光性方位。

第2章复习题

一、名词解释

1、消光 2、光程差 3、干涉色级序 4、补色法则 5、平行消光 6、对称消光 7、延性符号 8、消色

二、判断题

1、同一放大倍数的物镜，其数值孔径愈大分辨率愈高。

2、目镜与显微镜的分辨率无关，它只是把物镜放大的像进一步放大使眼睛看见而已。 3、解理缝的宽度和清楚程度只与矿物解理的完善程度相关。 4、镜下矿物颜色的浓度仅与该矿物的吸收能力有关。

5、矿物的多色性与薄片的厚度有关，薄片愈厚，多色性愈不明显。 6、干涉色级序的高低完全取决于光程差的大小。

7、两个晶体薄片在正交镜间45o位置异名轴重叠后，它们的干涉色总比重叠前要低。 8、正交偏光镜下晶体薄片与石膏板同名轴重叠，干涉色升高一个色序。

三、作图题

1、显微镜下的自形晶、半自形晶、及他形晶 2、贝克线的形成原因图示

3、平行消光、斜消光及对称消光

4、晶体消色时的晶体光率体与补色器光率体的位置与方向

四、问答题：

1、偏光显微镜在使用之前要进行哪些调节与校正？调节焦距时应怎样做？ 2、在镜下怎样测量矿物晶体两组解理的夹角？

3、什么是贝克线？它是如何产生的？并用图示出贝克线的形成原因？移动规律是什么？有什么作用？ 4、糙面是怎样形成的？

5、光程差与哪些因素有关？它影响干涉与消光的结果情况如何？

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6、怎样测晶体切片的干涉色级序？

7. 设橄榄石晶体薄片厚度0.03mm，三个主轴分别为：Ng=1.689, Nm=1.670, Np=1.654，其垂直Bxa切面和垂直Bxo切面上的光程差为多少？平行光轴面的切面又具有什么样的光程差？

8、普通辉石为正光性二轴晶，在正交偏光下其最高干涉色为二级黄（光程差为R＝880nm），⊥Bxa切面具有一级亮灰干涉色（光程差为R＝210nm），已知Ng-Nm=0.019，求薄片厚度。

第3-5章复习题

一、名词解释（每题3分）

1、反射率 2、陶瓷釉 3、刚玉瓷 4、纤维/晶须

二、问答题：

1、影响反射率的因素？

2、如何评价氧化铝陶瓷的显微结构？ 3、防止滑石瓷老化的措施？

4、简述板状刚玉、电熔白刚玉及电熔棕刚玉制备和显微结构特点。

5、烧结镁砂、海水镁砂和电熔镁砂在制备方法和显微结构上各有何不同？ 6、从玻璃熔窑室顶上取下一块用后的硅砖，请对其结构演变进行分析。

7、简述硅酸盐结合镁铬砖、直接结合镁铬砖和电熔再结合镁铬砖制备方法和显微结构的不同。 8、简述用后耐火材料的分析步骤。

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