文 件 编 号 : QF-QE－001 日 期：2011-7-16 页 数：第 5 页 共 26页 深圳市明泰电讯有限公司 版 本:V2.0 ◆试验方法：不装电池将手机放入温度实验箱内的架子上。按平均值不大于3℃/min的变化速度逐步升温到+70℃，温度稳定后持续48小时之后取出，并放置2小时恢复至常温，然后进行结构功能和射频性能检查。对于翻盖书记应该将一半样品合上翻盖，一半样品打开翻盖，对于滑盖手机应该将一半样品滑开到上限位置。 试验标准：手机的射频性能指标满足要求，功能正常（包括按键/侧键手感、滑/翻盖手感、触摸屏手机需检查触摸功能、带TV功能手机检查TV视频播放功能）外壳无变形。实验前/后确认按键导光效果、LCM显示效果等是否有变异。 注：若手机RF测试头不外露，则不进行RF点测试更改为测试天线耦合性能。 1.4．高温工作（Paramatric Test） ◆测试环境：+55度 ◆手机数量及状态：5台（翻/滑盖6台）先关机后开机 ◆测试目的：高温应用性性能测试 ◆试验方式：将手机电池冲满点，插入SIM卡以及T卡手机处于关机状态，放入温度实验箱内的架子上，按平均值不大于3℃/min的变化速度逐步升温到+55度，温度稳定后手机开始工作。在此环境下前三个小时，每个小时进行与外部手机进行通话测试，每次通话5分钟，（双卡手机需测试移动、联通两种 卡不同组合状态的通话：移动+移动；移动+联通；联通+联通；开卡1锁卡2，开卡2锁1.PVT后只做移动+联通（双开）最后一个小时进行电性能参数和功能检查（包括手机按键/侧键手感，滑/翻盖手感，电池盖拉拔力，长时间摄像，触摸屏手机还需要测试触摸功能是否正常、带TV功能手机检查TV视频播放功能）。对于翻盖手机将一半样品合上翻盖，一半样品打开翻盖；对于滑盖手机将一半样 品滑开到上限位置。 试验标准：手机的射频性能指标满足要求，功能正常（包括按键/侧键手感、滑/翻盖手感、触摸屏手机需要检查触摸功能、带TV功能手机检查TV视频播放功能）可正常拨打电话、实验前/后确认按键导光效果、LCM显示效果等是否有变异。 注：若手机RF测试头不外露，则需手工开孔露出RF头进行测试RF指标 Page 5 of 26 文 件 编 号 : QF-QE－001 日 期：2011-7-16 页 数：第 6 页 共 26页 深圳市明泰电讯有限公司 版 本:V2.0 1.5高温高湿存储： ◆测试环境：65℃ 95%RH （针对IML工艺，条件：55℃，95%RH） ◆手机数量及状态：5台 （翻/滑盖6台） 关机 ◆测试目的：测试样机耐高温高湿性能 ◆试验方法：装入电池，将手机处于关机状态，放入温湿实验箱内的架子上持续48个小时之后取出，常温恢复2小时，然后进行外观、结构和功能检查。对于翻盖手机应将一半样品合上翻盖，一半样品打开翻盖；对于滑盖手机应将一半样品滑开到上限位置。 ◆试验标准：手机的射频性能指标满足要求，功能正常（包括按键/侧键手感、滑/翻盖手感、触摸屏手机需检查触摸功能、带TV功能手机检查TV视频播放功能），外壳无变形，电池没有起鼓、漏液等不良失效现象，实验前/后确认按键导光效果、LCM显示效果等是否正常。 注：若手机RF测试头不外露，则不进行RF点测试，更改为测试天线耦合性能。 1.6．恒定湿热（parametric Test） ◆测试环境：+40℃ 95%RH ◆测试数量：5pcs（翻/滑盖6台） ◆测试目的：高温高湿性可靠性测试 ◆测试方法：将手机电池充电，手机处于开机状态，放入温度实验箱内的架子上。温度稳定后手机开机工作。在此环境下前3个小时，每1小时进行与外部手机进行通话测试，每次通话5分钟，（双卡手机DVT1阶段需测试移动、联通两种卡不同组合状态的通话：移动+移动；移动+联通；联通+联通；开卡1锁卡2，开卡2锁卡1.PVT后只做移动+联通（双开）最后1小时进行电性能参数和功能检查（包括手机按键/侧键手感，滑/翻盖手感，触摸屏手机还需测试触摸功能是否正常、带TV功能手机检查TV视频播放功能）。对于翻盖手机，应将一半样品合上翻盖，一半样品打开翻盖：对于滑盖手机应将一半样品滑开到上限位置。 试验标准：手机的射频性能指标满足要求，功能正常（包括按键/侧键手感、滑/翻盖手感、触摸屏手机需检查触摸功能、带TV功能手机检查TV视频播放功能），可正常拨打电话，通话正常；电池也没有起鼓、漏液等不良失效现象，实验前/后确认按键导光效果、LCM显示效果等是否有变异。 注：若手机RF测试头没有外露，则需手工开孔露出RF头进行测试RF指标 Page 6 of 26 文 件 编 号 : QF-QE－001 日 期：2011-7-16 页 数：第 7 页 共 26页 深圳市明泰电讯有限公司 版 本:V2.0 1.7．温度冲击测试（Thermal Shock） ◆测试环境：低温箱：-40℃； 高温箱：+70℃（IML 工艺为65℃） ◆手机数量及状态：5台（翻/滑盖 6台） 关机 ◆测试目的：通过高低温冲击进行样品应力筛选 ◆试验方法：使用高低温冲击箱，手机不带电池设置呈关机状态，先放置于高温箱内持续1小时后，在30秒内迅速移入低温箱并持续一小时后，再30秒内迅速回到高温箱。此为一个循环，共循环20次。实验结束后将样机从温度冲击箱（高温箱）中取出，恢复2小时后进行外观、机械和电性能检查。对于翻盖手机将一半样品打开翻盖。对于滑盖手机将一半样品滑开到上限位置。 ◆试验标准：手机的射频性能指标满足要求，表面喷涂无异常结构无异常，功能正常（包括按键、侧键手感、滑/翻盖手感、触摸屏手机需要检查触摸功能、带TV功能手机检查TV视频播放功能），可正常拨打电话；实验前后确认按键导光效果、LCM显示效果等。 二.破坏性测试 测试目的：模拟用户对产品进行破环性测试 测试数量：直板44PCS 滑盖/翻盖52PCS 测试流程： Page 7 of 26 文 件 编 号 : QF-QE－001 日 期：2011-7-16 页 数：第 8 页 共 26页 深圳市明泰电讯有限公司 版 本:V2.0 2.1.翻盖寿命测试 ◆测试环境：室温（20-30℃） ◆测试数量及状态：5台 开机 ◆测试目的：翻盖寿命测试 ◆测试方法：将手机设置成开机状态并固定在测试夹具上，旋转频率为20次-25次/分，进行10万次翻盖测试。每2万次检查一次 ◆判定标准：实验结束后手机外观，结构与电性能正常，无明显裂纹及破损，翻盖时无异响。 2.2．滑盖寿命实验 ◆测试环境：室温（20-30℃） ◆测试数量及状态：5台 开机 ◆测试目的：验证壳材料，FPC，滑轨的寿命以及滑盖组件的结构寿命 ", 测试方法：被测样机不包装，处于通电待机状态，要求滑轨达到最大活动位置，以25～30次/分钟的速度滑动滑盖，来回为一次，试验次数10 万次，每2 万次检查一次。 ◆判定标准：实验结束后手机外观，结构与功能正常，无明显裂纹及破损，滑盖时无异响。 2.3．开关机稳定性实验 ◆测试环境：室温（20-30℃） ◆测试数量及状态：2台 插卡/不插卡 ◆测试目的：验证正常开关机是否有异常 ◆测试方法：在插卡状态下（一台插移动卡，一台插联通卡）按住开机键不放，手机开机到出现网络运营标志后关机（大约10-55S）然后再开机，重复500次。然后再做按开机键开机，拔掉电池关机500次。最后在取下SIM卡情况下再做重复开机100次。 ◆判定标准：手机不允许出现不能开机或不能关机、数据丢失现象。允许有1次出现开机时间过长及开关机动画动画/声音失效 Page 8 of 26