示波器，两个单端探头。鼠标，键盘。

测试步骤：

（1） 用两个单端探头的“+”极分别连接数据信号（LA_DATA[3：0]）P/N两端的测试点，

探头的“-”端都接电路板的地。

（2） 调节电压，时间和触发，使两束被测信号波形纵向位置相同。波形稳定后抓取波形。

（3） 插入lable,用字符对相应的信号波形进行标注。

（4） 插入marker，将两条横向标尺分别置于波形交点的最大值和最小值处，测出交点

的最大、最小值。保存波形，如图5.5.

图5.5 Common Mode Voltage

判断标准：

判断两条信号线交点的最大值和最小值是否在标准范围（1.0V～1.4V）之内，若符合标准则结果为PASS,否则为FAIL.

5.6 Slew Rate Test

测试设备：

示波器，一个差分探头。鼠标，键盘。 测试步骤：

（1） 使用差分探头连接数据信号差分线对测试点，屏幕出项波形。

（2） 调节时间，幅值和触发按钮，使屏幕只出现一个上升沿或下降沿。波形稳定后，

抓取波形。如图5.6、5.7所示。

（3） 从软件的菜单选项中选择测试项。Measure→Time→Rise time/Fall time.

判断标准：

在测试标准的文档中找出Fall time/ Rise Time的标准值范围，与测试数据进行比对，判断结果是否通过。

图5.6 Rise Time

图5.7 Fall time

5.7 Data to Clock Timing Test

测试设备：

带宽高于5倍被测信号的示波器，两个差分探头，鼠标，键盘。

测试步骤：

（1） 将两个差分探头，鼠标，和键盘都接于示波器。将两组差分探头进行校准。 （2） 测出CLK信号的周期Tc。计算出Tc/14,3Tc/14,5Tc/14,??,11Tc/14,13Tc/14的

时间。 （3） 使用两个差分探头分别连接数据信号和时钟信号的测试点，屏幕出项两组波形。 （4） 调节幅值和位置按钮，使两组波形分别位于屏幕上下方；调节时间基准，是屏幕上

只显示的波形接近一个时钟周期。待波形稳定后,使用余晖功能使信号无限累积，形

成累积轨迹之后，抓取波形。如图5.8所示。

图8 DATA to CLK Timing

（5） 插入lable，用字符对相应的波形进行标注。

（6） 插入marcker,实线和虚线各对应一个通道。CLK对应的横向标尺置于信号的50%处，

纵向标尺经过波形与CLK横标的交点。LA_DATA[3:0]对应的横向标尺置于100mv(或者-100mv)处，纵向标尺分别置于Tc/14处。观察纵标是否在横标与第一个CLK周期

的交点范围内，保存图形。

（7） 移动LA_DATA对应的纵标至3Tc/14处，保存图形。一次类推至13Tc/14，原理如图5.9.

图5.9 DATA to CLK Timing

判断标准：

如果LA_DATA信号对应纵标位置为nTc/14，且位于LA_DATA信号第n个周期与横标的交点范围内，则为pass.否则为fail.原理如图5.10

图5.10 DATA to CLK Timing

注意事项：