材料分析技术——金属电子显微分析

单晶花样是以入射电子束方向为法线的0层倒易面的放大像。若事先画出主要晶带的0层倒易面，做为不同入射条件下的标准花样（P242），则实测花样与标准花样对照，可写出斑点指数，并确定晶带轴。 四、单晶花样指数化的不唯一性

与实际点阵一样，倒易点阵也具有许多对称性。如“等同倒易面”上，倒易点的排列规律一样，即衍射花样相同，显然它们的指数不同。如果仅从一幅花样来标定，可以得到多种指数化结果，不用说，B和[uvw]也各不相同。

另外，即使是在同一个倒易面上进行标定，也不是唯一的。因为任何倒易面上，阵点的排列至少具有二次对称性，即至少存在两种指数标定，但其中只有一种是真实情况。单晶花样指数化的这种不确定性，称“180°不唯一性”。如果我们分析花样的目的只是为了测定晶体点阵和物相，则不必考虑这种影响。但是，若涉及到位相测定时，必须设法消除这种不唯一性（P79略）。

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